特許
J-GLOBAL ID：201503018107682864

腐食環境モニタリング装置

発明者：
南谷 林太郎

南谷 林太郎 について

, 
串田 則行

串田 則行 について

, 
出野 徹哉

出野 徹哉 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (3件)： 井上 学 ,  戸田 裕二 ,  岩崎 重美
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-055235
公開番号（公開出願番号）：特開2013-190241
特許番号：特許第5798955号
出願日： 2012年03月13日
公開日（公表日）： 2013年09月26日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 一つの開口部を有する通路構造と、前記開口部からの腐食性物質の拡散方向と平行な通路構造の一部の壁面が透明基板で形成され、前記透明基板の上に形成した金属薄膜とで構成される第一及び第二の腐食環境モニタリング装置を備え、 前記第一及び第二の腐食環境モニタリング装置は、所定期間に渡り被測定環境中に放置した前記金属薄膜の腐食生成物によって変化した色調の領域の形状寸法について、前記透明基板を通して測定でき、 前記第一の腐食環境モニタリング装置の金属薄膜は所定の材料で構成され、かつ前記第二の腐食環境モニタリング装置の金属薄膜は、前記第一の腐食環境モニタリング装置の金属薄膜の材料とは異なる材料で構成されることを特徴とする腐食環境モニタリング装置。
IPC (1件)：
G01N 17/04 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G01N 17/04
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (6件)
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