特許
J-GLOBAL ID:201503019017452866

対応点探索装置、および距離測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 吉竹 英俊 ,  有田 貴弘
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-521500
特許番号:特許第5776771号
出願日: 2012年05月10日
請求項(抜粋):
【請求項1】 光学系および撮像部のうちの少なくとも一方を含む可動部が移動して被写体に合焦している合焦状態にある第1撮像装置によって該被写体が撮像されて得られる第1画像、前記第1撮像装置とは異なる視点から第2撮像装置によって該被写体が撮像されて得られる第2画像、および前記第1撮像装置が前記合焦状態にある際における前記可動部の位置情報を取得する情報取得部と、 前記第1画像および前記第2画像のうちの一方画像と他方画像とについて、前記一方画像内の基準点に対応する対応点を前記他方画像において探索する探索部と、 前記第1撮像装置が前記合焦状態にある際に前記撮像部によって得られる合焦画像のデータを用いて、該合焦画像内の1以上の画像領域について、前記第1撮像装置の前記被写体に対する合焦度合いを示す合焦時の評価値を算出する評価値算出部と、 前記合焦時の評価値と前記光学系に係る光学伝達関数の情報との関係を示す関係情報から、前記評価値算出部によって算出される前記合焦時の評価値に対応する光学伝達関数の情報を特定する関数情報特定部と、 前記他方画像のうちの前記探索部によって前記対応点が探索される探索範囲を、前記位置情報と前記合焦時の評価値とに基づいて決定する探索範囲決定部と、 を備え、 前記探索部が、 前記一方画像のうちの前記基準点を包含する基準領域に係る周波数成分と、前記他方画像のうちの参照領域に係る周波数成分とに基づき、前記対応点を探索する探索処理を行い、該探索処理において、前記関数情報特定部で特定される前記光学伝達関数の情報に応じて、周波数毎に重み付けを施して演算を行い、 前記探索範囲が、 前記他方画像内の前記参照領域を含むことを特徴とする対応点探索装置。
IPC (4件):
G01B 11/00 ( 200 6.01) ,  G06T 1/00 ( 200 6.01) ,  H04N 5/225 ( 200 6.01) ,  G01C 3/06 ( 200 6.01)
FI (5件):
G01B 11/00 H ,  G06T 1/00 315 ,  H04N 5/225 F ,  G01C 3/06 110 V ,  G01C 3/06 120 P
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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