特許
J-GLOBAL ID：201503019254989637
異常の表面上の最深点を自動的に識別するための方法およびデバイス
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
荒川 聡志
, 小倉 博
, 黒川 俊久
, 田中 拓人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-249470
公開番号（公開出願番号）：特開2015-129746
出願日： 2014年12月10日
公開日（公表日）： 2015年07月16日
要約：
【課題】ビデオ内視鏡またはボアスコープなどのようなビデオ検査デバイスを使用して表示対象物上の異常の表面上の最深点を自動的に識別する。【解決手段】ビデオ検査デバイスは表示対象物202の表面210の画像200を取得および表示する。基準表面は異常204の表面上に複数の点を含む関心領域270に沿って決定される。ビデオ検査デバイスは3次元座標を決定するために画像から3次元データを生成することができる。ビデオ検査デバイスは関心領域内の異常の表面上の複数の点のそれぞれについて深さを決定する。最大の深さを有する異常の表面上の点が最深点224として識別される。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
表示対象物(202)の表面上の異常(204)の表面上の最深点を自動的に識別する方法であって、
前記表示対象物(202)の前記表面の画像をイメージャ(124)で取得するステップと、
前記表示対象物(202)の画像をモニタ(170、172)上に表示するステップと、
中央処理ユニット(150)を使用して前記表示対象物(202)の前記表面上の複数の点の3次元座標を決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して基準表面(250)を決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記異常(204)の前記表面上の複数の点を含む関心領域(270、280)を決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記関心領域(270、280)内の前記異常(204)の前記表面上の前記複数の点のそれぞれについて深さを決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記異常(204)の前記表面上の前記最深点として最大の深さを有する前記関心領域(270、280)内の前記異常(204)の前記表面上の点を決定するステップと
を備える方法。
IPC (4件)：
G01N 21/88
, G01B 11/30
, G01B 11/02
, G01N 21/84
G01N21/88 J
, G01B11/30 A
, G01B11/02 H
, G01N21/84 A
2F065AA03
, 2F065AA04
, 2F065AA20
, 2F065AA25
, 2F065AA35
, 2F065AA49
, 2F065AA58
, 2F065AA59
, 2F065AA60
, 2F065AA63
, 2F065BB01
, 2F065BB06
, 2F065BB07
, 2F065CC31
, 2F065DD06
, 2F065FF01
, 2F065FF02
, 2F065FF04
, 2F065FF05
, 2F065FF06
, 2F065FF09
, 2F065FF27
, 2F065HH06
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL01
, 2F065LL46
, 2F065PP26
, 2F065QQ17
, 2F065QQ24
, 2F065QQ29
, 2F065QQ36
, 2F065SS02
, 2F065SS13
, 2G051AB07
, 2G051AC04
, 2G051CA03
, 2G051CB01
, 2G051CC01
, 2G051EB01
, 2G051ED21
