特許
J-GLOBAL ID：201503020138067771
硫黄の化学状態を調べる方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人 安富国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-028811
公開番号（公開出願番号）：特開2015-152533
出願日： 2014年02月18日
公開日（公表日）： 2015年08月24日
要約：
【課題】硫黄が不均一に存在する高分子材料等、各種高分子材料中の硫黄の化学状態について、精度の高い情報が得られる評価方法を提供する。【解決手段】硫黄が不均一に存在する硫黄含有高分子材料に、ビームサイズ垂直500μm×水平500μm以下のX線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収量を測定することにより、硫黄の化学状態を調べる方法に関する。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
硫黄含有高分子材料に、ビームサイズ垂直500μm×水平500μm以下のX線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収量を測定することにより、硫黄の化学状態を調べる方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (12件)：
2G001AA01
, 2G001BA13
, 2G001CA01
, 2G001EA01
, 2G001EA03
, 2G001GA01
, 2G001GA09
, 2G001HA01
, 2G001KA12
, 2G001LA05
, 2G001NA08
, 2G001SA01
