特許
J-GLOBAL ID：201503021726667888
3次元形状計測装置および方法ならびにプログラム
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
酒井 宏明
, 高村 順
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-227288
公開番号（公開出願番号）：特開2015-087319
出願日： 2013年10月31日
公開日（公表日）： 2015年05月07日
要約：
【課題】3次元形状の精度を向上すること。【解決手段】3次元データおよび所定点の3次元座標データを得る3次元レーザスキャナ2と、所定点の3次元座標データを得るトータルステーション3と、レーザスキャナにて走査される複数の走査範囲2Aの隣り合う各走査範囲2Aに設定した重複領域2Bに設置された共通点4Bと、少なくとも2箇所の走査範囲に設置された基準点4Cと、各走査範囲をレーザスキャナにより各走査範囲の3次元データを得て、かつ隣り合う各走査範囲における重複領域に設けられた共通点の3次元座標データを重ね合わせて隣り合う各走査範囲の3次元データを合成する際、トータルステーションにより得た各基準点の3次元座標データに基づいてレーザスキャナにより得た各基準点の3次元座標データの位置を補正し、補正した各基準点の3次元座標データの位置に合わせて同走査範囲の3次元データの位置を修正する制御部と、を備える。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
3次元データおよび所定点の3次元座標データを取得する3次元レーザスキャナと、
所定点の3次元座標データを取得するトータルステーションと、
前記3次元レーザスキャナにて走査される複数の走査範囲の隣り合う各前記走査範囲に設定した重複領域に設置された共通点と、
少なくとも2箇所の前記走査範囲に設置された基準点と、
各前記走査範囲を3次元レーザスキャナにより走査して隣り合う各前記走査範囲における前記重複領域に設置された共通点の3次元座標データを重ね合わせて隣り合う各前記走査範囲の3次元データを合成する際、前記トータルステーションにより取得した各前記基準点の3次元座標データに基づいて前記3次元レーザスキャナにより取得した各前記基準点の3次元座標データの位置を補正し、補正した各前記基準点の3次元座標データの位置に合わせて同走査範囲の前記3次元データの位置を修正する制御部と、
を備えることを特徴とする3次元形状計測装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01C15/00 103A
, G01B11/24 A
, G01C15/00 103Z
2F065AA04
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065CC14
, 2F065DD04
, 2F065FF11
, 2F065FF13
, 2F065FF61
, 2F065FF67
, 2F065GG04
, 2F065QQ21
, 2F065QQ25
, 2F065QQ31
, 2F065RR05
