画像検査装置、画像検査システム及び画像検査方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：篁悟
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-234160
公開番号（公開出願番号）：特開2015-094666
出願日： 2013年11月12日
公開日（公表日）： 2015年05月18日
要約：

【課題】用紙を読み取った読取画像と検査用の画像との比較により画像形成出力の結果を検査するシステムにおいて、周期的な欠陥の検知処理を高精度に行うこと。【解決手段】マスター画像について、画素毎の濃淡の変化を示す平坦度を算出し、マスター画像と読取画像との差分値を算出した結果である差分画像を取得し、取得された差分画像について、画像上の位置に応じた差分値の変化について周波数解析を行うことにより、読取画像において画像位置に応じた周期的な欠陥が生じていることを判断し、平坦度に基づき、画素毎の濃淡の変化が緩やかな領域を主として周期的な欠陥が生じていることを判断することを特徴とする。【選択図】図8

請求項（抜粋）：

記録媒体上に画像形成出力された画像を読み取った読取画像の検査を行う画像検査装置であって、画像形成出力された画像が読み取られて生成された読取画像を取得する読取画像取得部と、画像形成出力するべき画像の情報に基づいて前記読取画像の検査を行うための検査用画像を生成する検査用画像生成部と、生成された前記検査用画像について、画素毎の濃淡の変化を示す平坦度を算出する平坦度算出部と、前記検査用画像と前記読取画像との差分値を算出した結果である差分画像を取得する差分画像取得部と、取得された前記差分画像について、画像上の位置に応じた前記差分値の変化について周波数解析を行うことにより、前記読取画像において画像位置に応じた周期的な欠陥が生じていることを判断する周波数解析部とを含み、前記周波数解析部は、算出された前記平坦度に基づき、画素毎の濃淡の変化が緩やかな領域を主として前記周期的な欠陥が生じていることを判断することを特徴とする画像検査装置。

IPC (1件)：

G01N 21/892

FI (1件)：

G01N21/892 A

Fターム (8件)：

2G051AA34 , 2G051AB11 , 2G051CA04 , 2G051CB01 , 2G051DA06 , 2G051EA08 , 2G051EA16 , 2G051EC04

引用特許：

審査官引用 (4件)

記録装置及びその異常検査方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-202411 出願人：富士通株式会社
制御装置、画像形成装置、及び制御方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2011-179814 出願人：株式会社リコー
画像形成装置および画像検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-279415 出願人：富士ゼロックス株式会社

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