特許
J-GLOBAL ID：200903008333070150

画像形成装置および画像検査装置

発明者：
菊地 理夫

菊地 理夫 について

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伊本 善弥

伊本 善弥 について

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田中 靖幸

田中 靖幸 について

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表木 賢治

表木 賢治 について


出願人/特許権者：
富士ゼロックス株式会社

富士ゼロックス株式会社 について


代理人 (2件)： 吉田 研二 ,  石田 純
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-279415
公開番号（公開出願番号）：特開2005-043769
出願日： 2003年07月24日
公開日（公表日）： 2005年02月17日
要約：
【課題】画像形成装置において、画像に現れる周期的な欠陥を検出する。また、欠陥の周期に基づき画像形成装置内の不具合部位を推定する。【解決手段】画像形成の基準となる基準画像情報12と、形成された画像を読取った読取画像情報20の示す画像に対し、それぞれ第1および第2周波数解析部36,38により周波数解析を行い、さらに差分部48にて、これらの解析結果の差分を得る。差分結果に現れた周波数のピークが形成された画像に生じた周期性の欠陥を示し、このピークに基づき判定部52により不具合発生の判断を行う。また、記憶部54に、画像形成部14のある回転体に不具合が生じたときに読取画像に発生する周波数を対応づけてあらかじめ記憶する。そして、この記憶情報に基づき、判定部52は、検出された周波数から、どの回転体に不具合が生じたかを推定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
基準となる基準画像情報に基づいて記録媒体上に画像を形成する画像形成手段と、 前記記録媒体に形成された画像を読取り、読取画像情報を得る画像読取手段と、 前記基準画像情報の示す画像の所定部分に関して周波数解析を行う第1周波数解析手段と、 前記読取画像情報の示す画像の、前記第1周波数解析手段が周波数解析の対象とした部分に相当する部分に関して周波数解析を行う第2周波数解析手段と、 前記第1および第2周波数解析手段の解析結果の差分を得る解析結果差分手段と、 前記差分の値に基づき当該画像形成装置の不具合を判定する不具合判定手段と、 を有する、画像形成装置。
IPC (5件)：
G03G21/00 ,  B41J29/46 ,  G06T1/00 ,  G06T5/50 ,  G06T7/00
FI (5件)：
G03G21/00 510 ,  B41J29/46 C ,  G06T1/00 310A ,  G06T5/50 ,  G06T7/00 300H
Fターム (38件)：
2C061AQ06 ,  2C061BB08 ,  2C061KK18 ,  2C061KK26 ,  2C061KK28 ,  2C061KK35 ,  2H027DA09 ,  2H027DA35 ,  2H027DA38 ,  2H027DB01 ,  2H027DE02 ,  2H027DE07 ,  2H027DE10 ,  2H027EC04 ,  2H027EC06 ,  2H027EC09 ,  2H027EC18 ,  2H027EC20 ,  2H027ED01 ,  2H027ED17 ,  2H027HA02 ,  2H027HA07 ,  2H027HA12 ,  2H027HB05 ,  2H027HB16 ,  2H027ZA07 ,  5B057AA12 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CG05 ,  5B057DC32 ,  5L096AA06 ,  5L096BA07 ,  5L096FA23 ,  5L096GA08 ,  5L096JA11 ,  5L096JA18
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (3件)

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