イジングモデルの量子計算装置

発明者： , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (2件)：岡田賢治 , 今下勝博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-253850
公開番号（公開出願番号）：特開2015-114354
出願日： 2013年12月09日
公開日（公表日）： 2015年06月22日
要約：

【課題】本発明は、イジングモデルの量子計算装置において、読み出しエラーを防止するとともに、回路構成を簡易にすることを目的とする。【解決手段】本発明は、イジングモデルの複数のサイトに対応し、同一の発振周波数を有する複数のレーザーパルスPを発振する高調波モード同期レーザーと、複数のレーザーパルスPの各ペアについて、2つのレーザーパルスPの間で交換される光の振幅及び位相を制御することにより、2つのレーザーパルスPの間の擬似的なイジング相互作用Jijの大きさ及び符号を実装するイジング相互作用実装部と、複数のレーザーパルスPが光を交換する過程で定常状態に到達した後に、複数のレーザーパルスPの発振位相を測定することにより、複数のレーザーパルスPの擬似的なイジングスピンσiを測定するイジングスピン測定部と、を備えることを特徴とするイジングモデルの量子計算装置である。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

イジングモデルの複数のサイトに対応し、同一の発振周波数を有する複数のレーザーパルスを発振する高調波モード同期レーザーと、前記複数のレーザーパルスの各ペアについて、2つのレーザーパルスの間で交換される光の振幅及び位相を制御することにより、前記2つのレーザーパルスの間の擬似的なイジング相互作用の大きさ及び符号を実装するイジング相互作用実装部と、前記複数のレーザーパルスが光を交換する過程で定常状態に到達した後に、前記複数のレーザーパルスの発振位相を測定することにより、前記複数のレーザーパルスの擬似的なイジングスピンを測定するイジングスピン測定部と、を備えることを特徴とするイジングモデルの量子計算装置。

IPC (3件)：

G02F 3/00 , H01S 3/00 , H01S 3/10

FI (3件)：

G02F3/00 , H01S3/00 A , H01S3/10 Z

Fターム (21件)：

2K102AA13 , 2K102BA01 , 2K102BA21 , 2K102BA31 , 2K102BB01 , 2K102BB04 , 2K102BB10 , 2K102BD03 , 2K102CA00 , 2K102EA18 , 2K102EB20 , 2K102EB22 , 5F172AF03 , 5F172AM08 , 5F172CC04 , 5F172NN14 , 5F172NN22 , 5F172NQ23 , 5F172NQ48 , 5F172NQ53 , 5F172ZZ12

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