特許
J-GLOBAL ID：201503052208028505
シワ状態分析方法及びシワ状態分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
速水 進治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-198668
公開番号（公開出願番号）：特開2015-062569
出願日： 2013年09月25日
公開日（公表日）： 2015年04月09日
要約：
【課題】肌画像に基づいて肌のシワ状態を高精度に定量化する技術を提供する。【解決手段】シワ状態分析方法は、分析対象部位の肌輝度画像を取得する画像取得工程S21と、画像取得工程で取得された肌輝度画像から、複数の所定角度の各々についての線状テクスチャ画像をそれぞれ抽出する線検出工程S22と、線検出工程で抽出された各線状テクスチャ画像から、各所定角度の線形成分強度をそれぞれ抽出する強度抽出工程S23と、強度抽出工程で抽出された各線形成分強度を用いて、分析対象部位の肌のシワ状態情報を生成する情報生成工程S24と、を含む。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
分析対象部位の肌輝度画像を取得する画像取得工程と、
前記画像取得工程で取得された前記肌輝度画像から、複数の所定角度の各々についての線状テクスチャ画像をそれぞれ抽出する線検出工程と、
前記線検出工程で抽出された前記各線状テクスチャ画像から、前記各所定角度の線形成分強度をそれぞれ抽出する強度抽出工程と、
前記強度抽出工程で抽出された前記各線形成分強度を用いて、前記分析対象部位の肌のシワ状態情報を生成する情報生成工程と、
を含むシワ状態分析方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
4C038VA04
, 4C038VB03
, 4C038VB22
, 4C038VC05
, 4C038VC20
