特許
J-GLOBAL ID:201303084101844991

シワ検出方法、シワ検出装置およびシワ検出プログラム、並びに、シワ評価方法、シワ評価装置およびシワ評価プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 渡辺 望稔 ,  三和 晴子 ,  伊東 秀明 ,  三橋 史生
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-207296
公開番号(公開出願番号):特開2013-069122
出願日: 2011年09月22日
公開日(公表日): 2013年04月18日
要約:
【課題】被験者の顔を撮影した画像からシワを検出する際に誤検出を低減することができるシワ検出方法を提供する。【解決手段】被験者の顔データを取得し、取得された顔データの所定の部位に解析領域を設定し、設定された解析領域に対して、顔の所定の部位毎に予め設定されたシワの延びやすい角度範囲内の一方向若しくは互いに異なる複数の角度で延びるシワ成分をそれぞれ抽出した複数のシワ成分抽出データを生成し、複数のシワ成分抽出データのそれぞれに対してシワ成分を強調した複数のシワ成分強調データを生成し、複数のシワ成分強調データを互いに合成した合成データを生成し、合成データにおいて所定の閾値以上の強度を有するシワ成分を被験者のシワとして検出する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
被験者の顔データを取得し、 取得された顔データの所定の部位に解析領域を設定し、 設定された解析領域に対して、顔の所定の部位毎に予め設定されたシワの延びやすい角度範囲内の一方向若しくは互いに異なる複数の角度で延びるシワ成分をそれぞれ抽出した複数のシワ成分抽出データを生成し、 前記複数のシワ成分抽出データのそれぞれに対して前記シワ成分を強調した複数のシワ成分強調データを生成し、 前記複数のシワ成分強調データを互いに合成した合成データを生成し、 前記合成データにおいて所定の閾値以上の強度を有するシワ成分を被験者のシワとして検出するシワ検出方法。
IPC (2件):
G06T 1/00 ,  A61B 5/00
FI (2件):
G06T1/00 340A ,  A61B5/00 M
Fターム (33件):
4C117XA02 ,  4C117XB13 ,  4C117XD05 ,  4C117XE43 ,  4C117XJ01 ,  4C117XJ13 ,  4C117XJ17 ,  4C117XJ38 ,  4C117XK05 ,  4C117XK09 ,  4C117XK13 ,  4C117XK18 ,  5B057AA20 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB06 ,  5B057CE02 ,  5B057CE06 ,  5B057CE12 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5B057DC03 ,  5B057DC04 ,  5B057DC05 ,  5B057DC08 ,  5B057DC09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC36
引用特許:
出願人引用 (3件)

前のページに戻る