特許
J-GLOBAL ID:201503053833231706
電子部品用チタン銅
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
アクシス国際特許業務法人
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-272845
特許番号:特許第5718443号
出願日: 2013年12月27日
要約:
【課題】チタン銅において、Ti濃度のゆらぎを従来とは別の観点で制御し、強度及び曲げ加工性の向上を図る。
【解決手段】Tiを2.0〜4.0質量%含有し、第三元素としてFe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択された1種以上を合計で0〜0.5質量%含有し、残部が銅及び不可避的不純物からなる電子部品用チタン銅であって、圧延方向に平行な断面における<100>方位の結晶粒について母相中のTiをEDXによりライン分析したときに得られるTi濃度の揺らぎ曲線における変動係数が0.2〜0.8であり、且つ、圧延方向に平行な断面の組織観察における大きさが3μm以上の第二相粒子の観察視野10000μm2当たりの個数が35個以下であるチタン銅。
【選択図】図1
請求項(抜粋):
【請求項1】 Tiを2.0〜4.0質量%含有し、第三元素としてFe、Co、Mg、Si、Ni、Cr、Zr、Mo、V、Nb、Mn、B、及びPからなる群から選択された1種以上を合計で0〜0.5質量%含有し、残部が銅及び不可避的不純物からなる電子部品用チタン銅であって、圧延方向に平行な断面における<100>方位の結晶粒について母相中のTiをEDXによりライン分析したときに得られるTi濃度の揺らぎ曲線における変動係数が0.2〜0.8であり、且つ、圧延方向に平行な断面の組織観察における大きさが3μm以上の第二相粒子の観察視野10000μm2当たりの個数が35個以下であるチタン銅。
IPC (5件):
C22C 9/00 ( 200 6.01)
, H01B 1/02 ( 200 6.01)
, H01B 5/02 ( 200 6.01)
, C22F 1/08 ( 200 6.01)
, C22F 1/00 ( 200 6.01)
FI (25件):
C22C 9/00
, H01B 1/02 A
, H01B 5/02 Z
, C22F 1/08 B
, C22F 1/08 Q
, C22F 1/00 602
, C22F 1/00 604
, C22F 1/00 606
, C22F 1/00 623
, C22F 1/00 624
, C22F 1/00 625
, C22F 1/00 626
, C22F 1/00 630 A
, C22F 1/00 630 K
, C22F 1/00 661 A
, C22F 1/00 661 Z
, C22F 1/00 681
, C22F 1/00 682
, C22F 1/00 683
, C22F 1/00 685 Z
, C22F 1/00 686 B
, C22F 1/00 691 B
, C22F 1/00 691 C
, C22F 1/00 694 A
, C22F 1/00 694 B
引用特許:
出願人引用 (2件)
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高強度チタン銅
公報種別:公開公報
出願番号:特願2012-235997
出願人:JX日鉱日石金属株式会社
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高強度チタン銅
公報種別:公開公報
出願番号:特願2012-235994
出願人:JX日鉱日石金属株式会社
審査官引用 (3件)
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電子部品用チタン銅
公報種別:公開公報
出願番号:特願2013-238335
出願人:JX日鉱日石金属株式会社
-
高強度チタン銅
公報種別:公開公報
出願番号:特願2012-235997
出願人:JX日鉱日石金属株式会社
-
高強度チタン銅
公報種別:公開公報
出願番号:特願2012-235994
出願人:JX日鉱日石金属株式会社
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