特許

J-GLOBAL ID：201503081909905004

スキャンBISTのLFSRシード生成法及びそのプログラムを記憶する記憶媒体

発明者： 大竹 哲史 ,  本田 太郎 ,  森保 孝憲
出願人/特許権者： 国立大学法人 大分大学
代理人 (5件)： 青木 篤 ,  鶴田 準一 ,  南山 知広 ,  河合 章 ,  伊坪 公一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-146027
公開番号（公開出願番号）：特開2015-038473
出願日： 2014年07月16日
公開日（公表日）： 2015年02月26日
要約：

【課題】スキャンBISTの故障検出率向上のための新たなLFSRシード生成法を提供する。【解決手段】この課題を解決する為に、スキャンBISTのシード生成モデルを形成し、形成したシードモデルに対して対象故障のテスト生成を行ってLFSRのシードを生成する、各手順を備え、シード生成モデルは、前記スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したXORネットワークと、前記被検査回路の組合せ回路部分とを備え、前記組合せ回路部分に前記XORネットワーク出力が接続された構成を有する、スキャンBISTのLFSRシード生成方法を提供する。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

スキャンBISTのシード生成モデルを形成し、 前記形成したシード生成モデルに対して対象故障のテスト生成を行ってLFSRのシードを生成する、各手順を備え、 前記シード生成モデルは、前記スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したXORネットワークと、前記被検査回路の組合せ回路部分とを備え、前記組合せ回路部分に前記XORネットワーク出力が接続された構成を有する、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  H01L 21/822 ,  H01L 27/04

FI (2件)：

G01R31/28 V ,  H01L27/04 T

Fターム (12件)：

2G132AA03 ,  2G132AB01 ,  2G132AC14 ,  2G132AD07 ,  2G132AK08 ,  2G132AK29 ,  2G132AL11 ,  5F038CD09 ,  5F038DT06 ,  5F038DT08 ,  5F038EZ09 ,  5F038EZ20

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特開昭55-123744
  
• 特許第6611933号