研究者
J-GLOBAL ID：201001018241904119   更新日: 2025年10月02日

大竹 哲史

オオタケ サトシ | Ohtake Satoshi
所属機関・部署：
大分大学 理工学部門

大分大学 理工学部門 について


職名： 教授
ホームページURL (1件)： https://gds.csis.oita-u.ac.jp/
研究分野 (2件)： 計算機システム ,  電子デバイス、電子機器
研究キーワード (5件)： VLSI設計技術 ,  VLSIテスト技術 ,  VLSI設計自動化(CAD) ,  電子設計自動化(EDA) ,  IoT応用
競争的資金等の研究課題 (20件)：
  • 2023 - 2026 プロセッサの命令レベル自己劣化検知機構とテストプログラム自動生成に関する研究
  • 2018 - 2024 IoT時代の再構成可能集積回路に対する高信頼化に関する研究
  • 2018 - 2023 フィールド運用中のアダプティブテストに基づくVLSIの予防安全
  • 2016 - 2019 機能安全技術のための組込み自己診断法の開発
  • 2015 - 2018 集積回路の製造テスト結果を利用した信頼性予測
全件表示
論文 (79件)：
もっと見る
MISC (85件)：
  • 沖本明良, 大竹哲史. プロセッサのALUに対する命令レベル遷移故障テスト. 2025年度電気・情報関係学会九州支部連合大会. 2025
  • 長谷部健太, 大竹哲史. 束データ方式の非同期式プロセッサに対する可変遅延素子を用いた高信頼化. 2025年度電気・情報関係学会九州支部連合大会. 2025
  • 岡留志歩, 大竹哲史. FPGAの特定用途向け構成における自己劣化検知テスト. 2025年度電気・情報関係学会九州支部連合大会. 2025
  • 賀川経夫, 中上輝一, 大竹哲史. LSI不良予測におけるベイズ深層学習の適用とその検討. 火の国情報シンポジウム2025. 2025
  • 野間旭媛, 大竹哲史. ハードエラー耐性を考慮した高位合成の一手法. 電子情報通信学会技術研究報告. 2025. 124. 374. 37-42
もっと見る
特許 (6件)：
もっと見る
書籍 (3件)：
  • はかる✕わかる半導体 初めて学ぶ半導体の仕組み、動作原理、テスト手法
    日経BPコンサルティング 2025 ISBN:9784864431484
  • VLSI design and test for systems dependability
    Springer 2018 ISBN:9784431565925
  • VLSI-SoC: research trends in VLSI and systems on chip : Fourteenth International Conference on Very Large Scale Integration of System on Chip (VLSI-SoC 2006), October 16-18, 2006, Nice, France
    Springer 2008 ISBN:9780387749082
学歴 (3件)：
  • 1997 - 1999 奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科 博士後期課程
  • 1995 - 1997 奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科 博士前期課程
  • 1991 - 1995 電気通信大学 電気通信学部 情報工学科
学位 (1件)：
  • 博士(工学) (奈良先端科学技術大学院大学)
経歴 (13件)：
  • 2025/04 - 現在 大分大学 IRセンター センター長
  • 2023/10 - 現在 大分大学 学長特命補佐(研究,研究IR,大学院生研究環境支援担当)
  • 2019/04 - 現在 大分大学 理工学部 教授
  • 2023/04 - 2023/09 大分大学 理工学部 副学部長(研究担当)
  • 2022/04 - 2023/03 大分大学 理工学部 共創理工学科 学科長
全件表示
委員歴 (19件)：
  • 2024/04 - 現在 IEEE Asian Test Symposium 2025 Organizing Committee Co-Chair
  • 2024/04 - 現在 おおいたDX推進ラボ先端技術挑戦協議会 委員
  • 2022/09 - 現在 大分経済同友会 産業創出委員会 運営委員
  • 2022/04 - 現在 大分県LSIクラスター形成推進会議 イノベーション部会 委員
  • 2015/04 - 現在 電子情報通信学会情報システムソサイエティ ディペンダブルシステム研究専門委員会 委員
全件表示
受賞 (5件)：
  • 2008/11 - IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2007 Best Paper Award
  • 2006/11 - IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2005 Best Paper Award
  • 2006/01 - IEEE International Workshop on Electronic Design, Test & Applications (DELTA) 2006 Best Paper Award
  • 2004/11 - IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2003 Best Paper Award
  • 2002/09 - 平成13年度電子情報通信学会情報システムソサイエティ論文賞
所属学会 (6件)：
IEEE Consumer Technology Society Member ,  IEEE Circuits and Systems Society Member ,  IEEE Senior Member ,  情報処理学会 会員 ,  IEEE Computer Society Member ,  電子情報通信学会 会員
※　J-GLOBALの研究者情報は、researchmapの登録情報に基づき表示しています。 登録・更新については、こちらをご覧ください。

前のページに戻る

TOP

BOTTOM