特許
J-GLOBAL ID:201503098428938723

電子透かしシステム、電子透かし鍵生成装置、電子透かし埋込装置、電子透かし検出装置、電子透かし除去装置、関数実行装置、電子透かし方法及びプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 中尾 直樹 ,  中村 幸雄 ,  義村 宗洋
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-200796
公開番号(公開出願番号):特開2015-068871
出願日: 2013年09月27日
公開日(公表日): 2015年04月13日
要約:
【課題】損失落とし戸関数に対して電子透かしを埋め込み、検出し、除去する。【解決手段】電子透かし鍵生成装置10はベクトル空間パラメータ、公開鍵、秘密鍵、埋込鍵、検出鍵、除去鍵、単射鍵、損失鍵及び逆関数鍵を生成する。電子透かし埋込装置20は入力された埋込対象関数鍵へ埋込鍵を用いて電子透かしを埋め込み、透かし付関数鍵を出力する。電子透かし検出装置30は検出鍵を用いて入力された検出対象関数鍵に電子透かしが埋め込まれているか否かを検出する。電子透かし除去装置40は除去鍵を用いて入力された除去対象関数鍵から電子透かしを除去して除去済関数鍵を出力する。関数実行装置50は情報xから透かし付関数鍵を用いて情報yを計算する。また、情報yから逆関数鍵を用いて情報xを逆計算する。【選択図】図4
請求項(抜粋):
電子透かし鍵生成装置、電子透かし埋込装置、電子透かし検出装置、電子透かし除去装置及び関数実行装置を含む電子透かしシステムであって、 Nは自然数であり、qは素数であり、G,GTは位数qの巡回乗法群であり、gは群Gの生成元であり、Fqは位数qの有限体であり、Fq×は有限体Fq上の乗法群であり、GL(N,Fq)は有限体Fq上のN次元一般線形群であり、Xは一般線形群GL(N,Fq)からランダムに生成した正則行列であり、Vは有限体Fq上のN次元ベクトル空間であり、Aはベクトル空間Vの標準基底であり、eはV×V→GTの双線形写像であり、γはN以下の任意の整数であり、paramVはparamV:=(q,V,GT,A,e)であるベクトル空間パラメータであり、 上記電子透かし鍵生成装置は、 上記標準基底A及び上記正則行列Xを用いて、上記ベクトル空間Vの双対直交基底である基底B及び基底B*を生成する双対直交基底生成部と、 上記基底Bから所定の元を選択して基底B^を生成した上で上記ベクトル空間パラメータparamV及び上記基底B^を含む公開鍵pk並びに上記基底B*から所定の元を選択した秘密鍵skを生成する鍵ペア生成部と、 上記基底B*から上記秘密鍵skに含まれない元を選択して埋込鍵mkを生成する埋込鍵生成部と、 上記基底Bから上記基底B^に含まれない元を選択して検出鍵dkを生成する検出鍵生成部と、 上記正則行列Xを除去鍵rkとして設定する除去鍵生成部と、 単位行列に設定したγ×γの行列Mを用いて生成した行列ui,j、上記基底Bを用いて生成した行列vi,j及び上記基底B*を用いて生成した値kIDを含む単射鍵ekI並びに有限体Fqからランダムに生成した逆関数鍵ikを生成する単射鍵生成部と、 ゼロ行列に設定したγ×γの行列Mを用いて生成した行列ui,j、上記基底Bを用いて生成した行列vi,j及び上記基底B*を用いて生成した値kIDを含む損失鍵ekLを生成する損失鍵生成部と、 を含み、 上記電子透かし埋込装置は、 埋込対象関数鍵ekを入力として、上記埋込鍵mkを用いて、上記埋込対象関数鍵ekに含まれる値kIDに電子透かしを埋め込んだ透かし付関数鍵WM(ek)を生成する電子透かし埋込部 を含み、 上記電子透かし検出装置は、 検出対象関数鍵ek’を入力として、上記検出鍵dkを用いて、上記検出対象関数鍵ek’に含まれる値kIDに電子透かしが埋め込まれているか否かを示す情報を出力する電子透かし検出部 を含み、 上記電子透かし除去装置は、 除去対象関数鍵ek”を入力として、上記除去鍵rkを用いて、上記除去対象関数鍵ek”に含まれる値kIDから電子透かしを取り除いた除去済関数鍵ek^を出力する電子透かし除去部 を含み、 上記関数実行装置は、 計算対象の情報xを入力として、上記透かし付関数鍵WM(ek)を用いて、計算結果である情報yを出力する関数実行部と、 逆計算対象の情報yを入力として、上記逆関数鍵ikを用いて、逆計算結果である情報xを出力する逆関数実行部と、 を含む 電子透かしシステム。
IPC (3件):
G09C 5/00 ,  H04L 9/08 ,  H04L 9/14
FI (3件):
G09C5/00 ,  H04L9/00 601A ,  H04L9/00 641
Fターム (12件):
5J104AA14 ,  5J104AA16 ,  5J104AA32 ,  5J104AA41 ,  5J104EA04 ,  5J104EA08 ,  5J104FA00 ,  5J104JA03 ,  5J104JA21 ,  5J104NA02 ,  5J104NA37 ,  5J104PA07
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)
引用文献:
出願人引用 (1件)
  • 証明可能安全なプログラム電子透かしについて
審査官引用 (1件)
  • 証明可能安全なプログラム電子透かしについて

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