抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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熱処理を施さず室温で基板からはく離した単独の金蒸着膜の熱膨脹を,直接長さの変化を観察する方法で測定した.膜の厚さは8,000~1,450Å,測定温度は室温から300°Cまで.約250°C以下の温度領域では熱膨脹係数はバルクの値とほとんど差がないが,薄い膜ほど低い温度で膜に異常を生じ加熱とともに不可逆的な収縮を生ずることがわかった.しかしDebye-Scherrer法で測定された格子定数は加熱によって変化しない.またX線の回折線の拡りから膜厚が小さくなるほど結晶粒が細かくなり,加熱による不可逆変化の後では結晶粒の成長が見られることが推定された.以上の結果から膜の結晶構造および格子定数はバルクと同じであり,収縮は結晶粒界の消滅によることを結論した:参15