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J-GLOBAL ID：201602206165467358   整理番号：16A0229207

フレッチングによる時効時の狭窄からマイクロアーク値への電圧の統計解析

Statistical Analysis of Voltage from Constriction to Micro-arc Values during Aging by Fretting

著者 (8件)： EL MOSSOUESS S. (Univ. Rennes 1, Rennes, FRA) ,  EL MOSSOUESS S. (Entreprise Valeo, Creteil, FRA) ,  CHOI E.Yee Kin (Univ. Rennes 1, Rennes, FRA) ,  BENJEMAA N. (Entreprise Contelec, Rennes, FRA) ,  EL ABDI R. (Univ. Rennes 1, Rennes, FRA) ,  DOUBLET L. (Entreprise Valeo, Creteil, FRA) ,  RODARI T. (Entreprise Valeo, Creteil, FRA) ,  CARVOU E. (Univ. Rennes 1, Rennes, FRA)
資料名： Proceedings of the IEEE Holm Conference on Electrical Contacts  (Proceedings of the IEEE Holm Conference on Electrical Contacts)
巻： 61st  ページ： 304-308  発行年： 2015年 
JST資料番号： E0462C  ISSN： 1062-6808  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 反復微小滑りによるフレッチング現象は接触面を電気的及び化学的に劣化させる。本研究の主な目的は周知の3連続フレッチング段階におけるアーク発生と接触電圧を同時に調べることにある。フレッチング時のアーク電圧をオシロスコープで測定し,電圧ヒストグラムを実時間で記録した。第一段階では,マイクロアークは反発型に似ており,フレッチングトラックの半分でのみ生じ,継続時間は最長8μsであった。第二段階では,アークは観測されず,これは第一段階で表面が清浄になり,発生したデブリが導体であることによると思われる。第三段階では,第一段階よりも多くのアークが観測され,これは微小オープニング回路に起因した。

シソーラス用語： *滑り摩耗 ,  *損傷 ,  *アーク放電 ,  電圧 ,  継続時間 ,  顕微鏡観察 ,  モルフォロジー ,  表面構造 ,  *フレッチング ,  アーク電圧 ,  アーク継続時間 ,  表面形態 ,  *機械的性質 ,  *性質 ,  構造
準シソーラス用語： アーク ,  *マイクロアーク ,  接触電圧

分類 (1件)： 気体放電  (BJ03020T)

タイトルに関連する用語 (6件)： フレッチング ,  時効 ,  狭窄 ,  マイクロ ,  アーク ,  統計解析