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J-GLOBAL ID：201602211988672015   整理番号：16A0176069

共鳴軟X線散乱を用いた強磁性金属La_0.6Sr_0.4MnO₃薄膜の深さ方向電子状態解析

著者 (10件)： 芝田悟朗 (東大 理) ,  和達大樹 (東大 物性研) ,  田久保耕 (東大 物性研) ,  高橋文雄 (東大 物性研) ,  SUTARTO Ronny (Canadian Light Source) ,  HE Feizhou (Canadian Light Source) ,  吉松公平 (KEK-PF) ,  組頭広志 (KEK-PF) ,  小出常晴 (KEK-PF) ,  藤森淳 (東大 理)
資料名： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
巻： 29th  ページ： 87  発行年： 2016年01月09日 
JST資料番号： L1310A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *X線散乱 ,  共鳴散乱 ,  固溶体 ,  ランタン化合物 ,  ストロンチウム化合物 ,  マンガン酸塩 ,  磁性薄膜 ,  MBE成長 ,  X線吸収スペクトル ,  膜厚 ,  金属 ,  *電子状態 ,  *共鳴X線散乱 ,  *マンガン酸ランタンストロンチウム ,  強磁性金属 ,  レーザMBE成長
準シソーラス用語： レーザMBE

分類 (1件)： 酸化物結晶の磁性  (BM06050E)

タイトルに関連する用語 (6件)： 共鳴軟X線散乱 ,  強磁性金属 ,  薄膜 ,  深さ方向 ,  電子状態 ,  解析