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J-GLOBAL ID：201602215013703624   整理番号：16A0103650

改良された解像度を持つ光場顕微鏡を用いた3D計測

3D measurement using light field microscopy with improved resolution

著者 (3件)： USUKI Shin (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN) ,  OHASHI Yuki (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN) ,  MIURA Kenjiro T. (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
資料名： 映像情報メディア学会技術報告
巻： 39  号： 44(IST2015 64-70)  ページ： 1-2  発行年： 2015年11月13日 
JST資料番号： S0209A  ISSN： 1342-6893  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *光学顕微鏡 ,  *ディジタル画像 ,  画像処理 ,  画素 ,  *三次元測定 ,  評価試験 ,  分解能 ,  放射場
準シソーラス用語： サブピクセル処理 ,  ピクセル ,  光場顕微鏡 ,  光追跡 ,  *三次元計測 ,  解像度 ,  光場

分類 (3件)： 光学顕微鏡,望遠鏡  (QF05050R) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  計測機器一般  (AD02000X)

引用文献 (5件)：

• Nayar S K and Nakagawa Y, "Shape from Focus", IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, pp.824-831(1994).
• Bando Y and Nishita T, "Towards Digital Refocusing from a Single Photograph", Pacific Graphics, pp.363-372(2007).
• Levoy M, Ng R, Adams A, Footer M and Horowitz M, "Light Field Microscopy", ACM Transactions on Graphics, pp.924-934(2006).
• Ng R, Levoy M, Brédif M, Duval G, Horowitz M and Hanrahan P, "Light Field Photography with a Hand-held Plenoptic Camera", Stanford Tech Report, (2005).
• Usuki S and Miura K T, "High-resolution Tolerance against Noise Imaging Technique Based on Active Shift of Optical Axis", International Journal Automation Technology, Vol.5 No.2 pp.206-211(2011).

タイトルに関連する用語 (4件)： 解像度 ,  光場 ,  顕微鏡 ,  3D計測