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J-GLOBAL ID：201602216612132630   整理番号：16A1012147

大規模計測の進歩-レビューと今後の動向

Advances in Large-Scale Metrology - Review and future trends

著者 (10件)： Schmitt R.H. (Laboratory for Machine Tools and Production Engineering (WZL) of RWTH Aachen University, Aachen, Germany) ,  Peterek M. (Laboratory for Machine Tools and Production Engineering (WZL) of RWTH Aachen University, Aachen, Germany) ,  Morse E. (University of North Carolina in Charlotte (UNCC), 9201 University City Blvd, Charlotte, NC 28223, USA) ,  Knapp W. (IWF, ETH Zuerich, Geerenweg 2c, 8226 Schleitheim, Switzerland) ,  Galetto M. (Politecnico di Torino, Corso Duca degli Abruzzi, 24, 10129 Torino, Italy) ,  Haertig F. (Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Bundesallee 100, 38116 Braunschweig, Germany) ,  Goch G. (University of North Carolina in Charlotte (UNCC), 9201 University City Blvd, Charlotte, NC 28223, USA) ,  Hughes B. (National Physical Laboratory, Teddington, United Kingdom) ,  Forbes A. (National Physical Laboratory, Teddington, United Kingdom) ,  Estler W.T. (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, USA)
資料名： CIRP Annals. Manufacturing Technology  (CIRP Annals. Manufacturing Technology)
巻： 65  号： 2  ページ： 643-665  発行年： 2016年 
JST資料番号： E0026A  ISSN： 0007-8506  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 大規模計測の分野は,何十年にわたって幅広く研究され,測地学や実験室キャリブレーションに劣らず,多様なトピックスの組み合わせと競争を指し示している。大規模計測が研究フロンティアを示し続けている主な理由は,従来規模で導入され,仕上げられた技術進歩が,寸法とともに非線形的に追加課題の増加に直面しているからである。これに対して,測定プロセス全体を検討する新しい方法が必要となり,仮想計測プロセスやサイバ-物理システムのような概念を適用することが結果的に生じる。この論文は,大規模計測の継続的な進化について報告する。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *モデリング ,  *計測 ,  技術進歩 ,  大規模 ,  *計装 ,  *バーチャル計測
準シソーラス用語： *仮想計測

著者キーワード (3件)： Metrology ,  Modeling ,  Large-Scale Metrology

分類 (1件)： 計測学一般  (AD01000Q)

タイトルに関連する用語 (4件)： 大規模 ,  計測 ,  レビュー ,  動向