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J-GLOBAL ID:201602216971346930   整理番号:16A0168777

AlGaN/AlN/GaN構造のGaN核合体過程の延長を介した成長条件最適化と移動度の増大【Powered by NICT】

Growth condition optimization and mobility enhancement through prolonging the GaN nuclei coalescence process of AlGaN/AlN/GaN structure
著者 (11件):
資料名:
巻: 24  号:ページ: 096802-1-096802-4  発行年: 2015年 
JST資料番号: W1539A  ISSN: 1674-1056  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 英語 (EN)
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AlGaN/AlN/GaN構造をサファイア基板上に有機金属気相エピタクシーにより成長させた。二次元電子ガス(2DEG)特性に及ぼすAlN中間層の厚さは,AlGaN障壁厚み,およびAl組成の影響を調べた。V/III比を低下させ,高温GaN層成長の初期段階における原子炉圧力を高めるGaN核凝結プロセスを長引かせ,結晶品質と界面形態を効果的に改善し,界面粗さ散乱を低減と2DEG移動度を改善する。249の2次元電子ガスのシート密度1.19×10~(13)cm~(-2),2101cm~2V~(-1)~(-1)の電子移動度,シート抵抗値を有するAl-GaN/AlN/GaN構造を得た。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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半導体薄膜  ,  13-15族化合物を含む半導体-半導体接合 

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