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J-GLOBAL ID：201602226612688904   整理番号：16A1105392

非破壊検査装置のための放射線検出器の開発

著者 (3件)： 小宮一毅 (東京都産業技術研究セ) ,  藤原康平 (東京都産業技術研究セ) ,  小林丈士 (東京都産業技術研究セ)
資料名： 東京都立産業技術研究センター研究報告  (Bulletin of Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute)
号： 11  ページ： 92-93  発行年： 2016年09月26日 
JST資料番号： S0759C  ISSN： 1881-8676  CODEN： KHCDBB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ガス電子増幅器(GEM)は欧州で開発されたマイクロパターンガス検出器であり,素粒子物理実験等の検出器使われるが,将来は放射線を用いた非破壊検査装置への応用が期待される。有機絶縁層を使うと使用時の放電で層内に炭化導電路を形成して短絡し,耐久性が課題であった。そこで焼結前には軟らかく抜き加工もできて,耐アーク放電性に優れる低温焼結セラミックス(LTCC)を用いてGEM電極を試作した。その結果,従来の液晶ポリマ(LCP)-GEMに比べて,増幅率は同等であり,耐放電特性が優れており,懸念された放電による短絡故障が無く取り扱いが容易になると期待された。今後は,放電回数の抑制対策を行なって実用化に近づけたい。

シソーラス用語： *増幅器 ,  ガス検出器 ,  実験 ,  *放射線検出器 ,  *非破壊検査 ,  試験装置 ,  利用 ,  ポリイミド ,  高分子液晶 ,  層 ,  炭化物 ,  短絡【電気】 ,  耐久性 ,  *焼結 ,  *セラミック ,  比率 ,  放電開始電圧 ,  簡約化 ,  操作 ,  マイクロパターン ,  増幅率 ,  *低温焼結 ,  *気体電子増幅検出器 ,  素粒子実験 ,  電圧
準シソーラス用語： *ガス電子増幅器 ,  検査装置 ,  絶縁層 ,  素粒子物理実験 ,  短絡故障

分類 (4件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J) ,  非破壊試験  (HB02030F) ,  絶縁材料  (NA04030W) ,  金属材料へのセラミック被覆  (YC02050V)

引用文献 (3件)：

• F. Sauli, GEM: ”A new concept for electron amplification in gas detectors”, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, Vol.386, pp.531-534 (1997)
• M. Wakabayashi et al.,: ”Development of a Diehard GEM using PTFE insulator substrate”, Journal of Instrumentation, Vol.9, C03043 (2014)
• F.Sauli, : ”Principles of operation of multiwire proportional and drift chambers”, CERN yellow report, CERN 77-09(1977)

タイトルに関連する用語 (3件)： 非破壊検査 ,  放射線検出器 ,  開発