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J-GLOBAL ID：201602237051900313   整理番号：16A1279743

曲げ試験による有機薄膜トランジスタの信頼性評価

著者 (3件)： 宍戸信之 (北九州市環境エレクトロニクス研) ,  末松祐一 (名古屋工大 工) ,  神谷庄司 (名古屋工大 工)
資料名： 日本機械学会年次大会講演論文集(CD-ROM)  (日本機械学会年次大会(CD-ROM))
巻： 2016  ページ： ROMBUNNO.J2210104  発行年： 2016年09月10日 
JST資料番号： X0587C  ISSN： 2424-2667  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： フレキシブルエレクトロニクスデバイスは,その形状変化に富む特徴を活かして屈曲変形を伴った利用環境が想定されるが,屈曲変形に強い実用性のあるデバイスを設計・製作するためには,その機能を損なう変形の限界点を知ることが重要である。そこで本研究では,有機薄膜トランジスタデバイスに対して電気特性を評価しながら完全に折り曲げることが可能な曲げ試験システムを構築し,トランジスタとしての機能を完全に停止する限界点を確認した。(著者抄録)

シソーラス用語： *曲げ試験 ,  薄膜トランジスタ ,  電気特性 ,  トランジスタ ,  歪
準シソーラス用語： 形状変化 ,  *信頼性評価 ,  表面歪 ,  *有機薄膜トランジスタ ,  利用環境

分類 (2件)： 材料試験  (HB02020U) ,  トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (3件)： 曲げ試験 ,  有機薄膜トランジスタ ,  信頼性評価