研究者
J-GLOBAL ID：201101099285286851
更新日: 2022年09月12日
神谷 庄司
カミヤ シヨウジ | Kamiya Shoji
所属機関・部署：
名古屋工業大学
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職名：
教授
研究分野 (1件)：
材料力学、機械材料
研究キーワード (1件)：
-
競争的資金等の研究課題 (2件)：
薄膜の破壊力学的強度評価に関する研究
繊維強化複合材料の破壊過程に関する研究
論文 (78件)：
Shoji Kamiya, Hayato Izumi, Tomohito Sekine, Nobuyuki Shishido, Hiroko Sugiyama, Yasuko Haga, Takeo Minari, Masaaki Koganemaru, Shizuo Tokito. A multidimensional scheme of characterization for performance deterioration behavior of flexible devices under bending deformation. Thin Solid Films. 2019
Mitsuhiko Kondo, NobuyukiShishido, Shoji Kamiya, Atsushi Kubo, Yoshitaka Umeno, Yoshie Ishikawa, Naoto Koshizaki. High-Strength Sub-Micrometer Spherical Particles Fabricated by Pulsed Laser Melting in Liquid. Particle and Particle Systems Characterization. 2018. 35. 7. 1800061-1800061
Shoji Kamiya, Akira Kongo, Hiroko Sugiyama, Hayato Izumi. Electronic imaging of subcritical defect accumulation in single crystal silicon under fatigue loading. Sensors and Actuators A: Physical. 2018. 279. 705-711
Shoji Kamiya, Akira Kongo, Hiroko Sugiyama, Hayato Izumi. World-first electronic imaging of subcritical slip glowth in single crystal silicon under fatigue lopading. The 19th international conference on solid-state sensors, actuators, and microsystems. 2017. 1229-1232
Shoji Kamiya, Arasu Udhayakumar, Hayato Izumi, Kozo Koiwa. Shear stress enhanced fatigue damage accumulation in single crystalline silicon under cyclic mechanical loading. Sensors and Actuators A: Physical. 2016
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MISC (1件)：
神谷庄司. 密着強度の評価における表面形成と塑性変形のエネルギー. 表面技術. 2012. 63. 12. 10-16
講演・口頭発表等 (28件)：
半導体デバイス配線中のCu/SiN界面局所付着強度に及ぼす銅の結晶方位の影響
(日本機械学会東海支部第62期総会講演会 2013)
配線銅/保護層界面剥離試験中の銅結晶粒構造その場観察による界面付着強度と局所変形との相関評価
(日本機械学会東海支部第62期総会講演会 2013)
単結晶シリコンの塑性特性における吸蔵水素の影響
(日本機械学会東海支部第62期総会講演会 2013)
電子線誘起電流を用いた圧縮応力下におけるシリコンの疲労損傷の観察
(日本機械学会東海支部第62期総会講演会 2013)
き裂進展シミュレーションによるLSIのCu/SiN界面付着強度に対する銅の結晶粒構造の影響の評価
(日本機械学会東海支部第62期総会講演会 2013)
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