文献
J-GLOBAL ID：201602249446734924   整理番号：13A1254125

Diagnosis of soft faults in analog integrated circuits based on fractional correlation

  • 出版者サイト 複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=13A1254125&COPY=1") }}
  • 高度な検索・分析はJDreamⅢで
著者 (3件)：
Deng Yong

Deng Yong について

(School of Automation Engineering, Univ. of Electronic Sci. and Technol. of China, Chengdu)

School of Automation Engineering, Univ. of Electronic Sci. and Technol. of China, Chengdu について

, 
Shi Yibing

Shi Yibing について

(School of Automation Engineering, Univ. of Electronic Sci. and Technol. of China, Chengdu)

School of Automation Engineering, Univ. of Electronic Sci. and Technol. of China, Chengdu について

, 
Zhang Wei

Zhang Wei について

(School of Automation Engineering, Univ. of Electronic Sci. and Technol. of China, Chengdu)

School of Automation Engineering, Univ. of Electronic Sci. and Technol. of China, Chengdu について


資料名：
Journal of Semiconductors  (Journal of Semiconductors)

Journal of Semiconductors について


巻： 33  号： 8  ページ： 085007-1-085007-6  発行年： 2012年 
JST資料番号： C2377A  ISSN： 1674-4926  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM