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J-GLOBAL ID：201602255097902171   整理番号：16A0949750

電子デバイスの非破壊精密検査を目的とした多軸X線CTの開発

著者 (2件)： 加納徹 (東京工科大) ,  小関道彦 (信州大)
資料名： センシングフォーラム資料(CD-ROM)  (計測自動制御学会センシングフォーラム計測部門大会予稿集)
巻： 33rd  ページ： ROMBUNNO.1C2-2  発行年： 2016年09月01日 
JST資料番号： L2566B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *非破壊検査 ,  *検査 ,  *固体素子 ,  *X線CT ,  *多軸 ,  アーチファクト ,  機構 ,  計算機アルゴリズム ,  画像 ,  再構成アルゴリズム ,  *電子素子 ,  *X線検査 ,  *放射線検査 ,  *X線診断
準シソーラス用語： 精密検査 ,  *電子デバイス ,  メタルアーチファクト ,  回転機構 ,  投影像

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電子デバイス ,  精密検査 ,  多軸 ,  X線CT ,  開発