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J-GLOBAL ID:201602255097902171   整理番号:16A0949750

電子デバイスの非破壊精密検査を目的とした多軸X線CTの開発

著者 (2件):
資料名:
巻: 33rd  ページ: ROMBUNNO.1C2-2  発行年: 2016年09月01日 
JST資料番号: L2566B  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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分類 (1件):
分類
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非破壊試験 
タイトルに関連する用語 (5件):
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