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J-GLOBAL ID：201602255713642801   整理番号：16A1273672

シンクロトロンベース分光顕微鏡法を用いたダイヤモンド状炭素膜の孔食の研究

Investigation of pitting corrosion of diamond-like carbon films using synchrotron-based spectromicroscopy

著者 (10件)： Tunmee Sarayut (Graduate School of Engineering, Nagaoka University of Technology, Nagaoka 940-2188, Japan) ,  Photongkam Pat (Synchrotron Light Research Institute, 111 University Avenue, Nakhon Ratchasima 30000, Thailand) ,  Euaruksakul Chanan (Synchrotron Light Research Institute, 111 University Avenue, Nakhon Ratchasima 30000, Thailand) ,  Takamatsu Hiroki (Laboratory of Advanced Science and Technology for Industry, 3-1-2 Koto, 678-1205 Hyogo, Japan) ,  Zhou XiaoLong (Graduate School of Engineering, Nagaoka University of Technology, Nagaoka 940-2188, Japan) ,  Wongpanya Pornwasa (School of Metallurgical Engineering, Suranaree University of Technology, Nakhon Ratchasima 30000, Thailand) ,  Komatsu Keiji (Graduate School of Engineering, Nagaoka University of Technology, Nagaoka 940-2188, Japan) ,  Kanda Kazuhiro (Laboratory of Advanced Science and Technology for Industry, 3-1-2 Koto, 678-1205 Hyogo, Japan) ,  Ito Haruhiko (Graduate School of Engineering, Nagaoka University of Technology, Nagaoka 940-2188, Japan) ,  Saitoh Hidetoshi (Graduate School of Engineering, Nagaoka University of Technology, Nagaoka 940-2188, Japan)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 120  号： 19  ページ： 195303-195303-10  発行年： 2016年11月21日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *ダイヤモンド状炭素 ,  *炭素 ,  *薄膜 ,  *孔食 ,  *顕微分光分析 ,  *シンクロトロン ,  電気化学的分極 ,  耐孔食性 ,  化学結合 ,  電子顕微鏡観察 ,  Ramanスペクトル ,  XANES ,  走査電子顕微鏡
準シソーラス用語： NEXAFS ,  PEEM【電顕】 ,  π結合 ,  *顕微分光法 ,  孔食抵抗 ,  動電位分極

分類 (2件)： 半導体薄膜  (BK14040E) ,  炭素とその化合物  (YB02060D)

タイトルに関連する用語 (6件)： シンクロトロン ,  分光 ,  顕微鏡法 ,  ダイヤモンド状炭素 ,  孔食 ,  研究