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J-GLOBAL ID：201602257291202950   整理番号：16A0686335

先進材料開発を支える分析・解析・計測技術の最新潮流をさぐる-JASIS2016と分析・解析・計測技術-〔解説1-(2)〕材料開発・製品開発と分析機器の活用技術

著者 (5件)： 清水研一 (東京都産業技術研究セ) ,  渡邊禎之 (東京都産業技術研究セ) ,  小川大輔 (東京都産業技術研究セ) ,  柳捷凡 (東京都産業技術研究セ) ,  染川正一 (東京都産業技術研究セ)
資料名： 工業材料  (Engineering Materials)
巻： 64  号： 9  ページ： 31-35  発行年： 2016年09月01日 
JST資料番号： F0172A  ISSN： 0452-2834  CODEN： KZAIA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 東京都立産業技術研究センターの分析機器を利用した材料開発や製品開発の事例を紹介した。TOF-SIMSは二次イオンを検出する表面分析法であるが,これを活用した太陽電池モジュールの開発事例としてCIS太陽電池がある。X線回折装置を活用し,表面の物質を同定した上で新規化学洗浄技術の開発を行った事例もある。種々の粒子径分布測定装置を活用したナノ粒子応用製品の開発例では金ナノ触媒や研磨剤としてのナノダイヤモンド分散液,およびSEM-EDXを活用したVOC処理触媒の開発を紹介した。

シソーラス用語： 材料 ,  *計測 ,  *製品開発 ,  分析機器 ,  二次イオン質量分析 ,  二次イオン ,  *表面分析 ,  太陽電池 ,  X線回折 ,  化学洗浄 ,  粒径 ,  触媒 ,  研磨剤 ,  ナノ結晶 ,  エネルギー分散X線分光分析 ,  揮発性有機化合物 ,  走査電子顕微鏡 ,  飛行時間法 ,  ナノ構造 ,  ダイヤモンド
準シソーラス用語： SEM-EDX ,  TOF-SIMS ,  ナノダイヤモンド ,  ナノ触媒 ,  材料開発 ,  先進材料

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (10件)： 先進材料 ,  開発 ,  分析 ,  解析 ,  計測 ,  潮流 ,  計測技術 ,  材料開発 ,  分析機器 ,  活用