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J-GLOBAL ID：201602262558619892   整理番号：16A0975642

回路概念アプローチを用いたBCIテストシステムの理論的解析【Powered by NICT】

Theoretical analysis of BCI test system using circuit concept approach

著者 (6件)： Murano Kimitoshi (Tokai University, Kanagawa, 259-1292 Japan) ,  Takata Naoki (Tokai University, Kanagawa, 259-1292 Japan) ,  Hoshino Misaki (Tokai University, Kanagawa, 259-1292 Japan) ,  Kami Yoshio (The University of Electro-Communications, Tokyo, 182-8585 Japan) ,  Xiao Fengchao (The University of Electro-Communications, Tokyo, 182-8585 Japan) ,  Tayarani Majid (Iran University of Science and Technology, Tehran, 1684613114 Iran)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： EMC  ページ： 600-603  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： バルク電流注入試験(BCI試験)では,電子機器に接続されるワイヤハーネスに注入される電流。この試験装置は,外部電磁場に曝露された伝送線路と考えることができるので,ライン電圧と電流の関係は,修正電信方程式で表される。回路概念アプローチを用いたBCI試験システムの分析法を明らかにし,その有効性を実験でverif年版。さらに,例として示されている平面EM場に曝された伝送線路の感受性およびBCI試験下の違い。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 電信方程式 ,  電子装置 ,  電磁場 ,  感受性 ,  ワイヤリングハーネス ,  *伝送線路 ,  電流 ,  電圧 ,  試験装置
準シソーラス用語： 電流注入 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 通信理論一般  (ND02010V) ,  計測機器一般  (AD02000X) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (5件)： 概念 ,  BCI ,  テスト ,  理論 ,  解析