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J-GLOBAL ID：201602269923636086   整理番号：16A0438225

過酷事故対応を目指した原子炉用ダイヤモンド半導体デバイスの開発(9)ダイヤモンド放射線検出器のX線耐性

著者 (7件)： 坪田雅功 (北大 大学院) ,  金子純一 (北大 大学院) ,  嶋岡毅紘 (北大 大学院) ,  新名宏章 (北大 大学院) ,  茶谷原昭義 (産業技術総合研) ,  加藤有香子 (産業技術総合研) ,  梅沢仁 (産業技術総合研)
資料名： 日本原子力学会春の年会予稿集(CD-ROM)  (日本原子力学会春の年会(CD-ROM))
巻： 2016  ページ： ROMBUNNO.1K15  発行年： 2016年03月16日 
JST資料番号： G0939B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： X線照射によるダイヤモンド放射線検出器への影響を評価した。ダイヤモンド単結晶にX線照射をしたが,紫外,可視,赤外光の吸光度に変化は見られなかった。α線誘導電荷量測定では,積算線量3MGy照射によってエネルギー分解能の劣化を確認した。(著者抄録)

シソーラス用語： *半導体放射線検出器 ,  半導体薄膜 ,  *ダイヤモンド ,  X線照射 ,  *シビアアクシデント ,  吸光度 ,  耐放射線性 ,  γ線検出器 ,  γ線検出 ,  吸光分光分析 ,  漏れ電流 ,  α線照射 ,  単結晶 ,  結晶成長
準シソーラス用語： ダイヤモンド半導体 ,  単結晶育成

分類 (2件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J) ,  水冷却炉の安全性  (MD06020H)

タイトルに関連する用語 (8件)： 過酷事故 ,  原子炉 ,  ダイヤモンド半導体 ,  開発 ,  ダイヤモンド ,  放射線検出器 ,  X線 ,  耐性