文献

J-GLOBAL ID：201602272481808045   整理番号：16A1321228

高分解能RBS/ERDAを用いるイオン液体表面の完全組成深さプロファイリング

Perfect Composition Depth Profiling of Ionic Liquid Surfaces Using High-resolution RBS/ERDA

著者 (6件)： NAKAJIMA Kaoru (Department of Micro Engineering, Kyoto University) ,  ZOLBOO Enkhbayar (Department of Micro Engineering, Kyoto University) ,  OHASHI Tomohiro (Department of Micro Engineering, Kyoto University) ,  LISAL Martin (Laboratory of Aerosols Chemistry and Physics, Institute of Chemical Process Fundamentals of the CAS) ,  LISAL Martin (Department of Physics, Faculty of Science, J. E. Purkinje University) ,  KIMURA Kenji (Department of Micro Engineering, Kyoto University)
資料名： Analytical Sciences  (Analytical Sciences)
巻： 32  号： 10  ページ： 1089-1094(J-STAGE)  発行年： 2016年 
JST資料番号： G0673B  ISSN： 0910-6340  CODEN： ANSCEN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 大きな分子イオン液体(ILs)の表面構造を示すために,1-アルキル-3-メチルイミダゾリウムビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド([C_nC₁Im][Tf₂N],n=2,6,10)の表面近傍元素深さ分布を,高分解能弾性反跳粒子検出分析(HR-ERDA)を組み合わせた高分解能Rutherford後方散乱分光法(HRBS)を用いて研究した。水素を含むすべての構成元素の元素深さプロフィルをHR-ERDA/HRBS測定から誘導したので,同時にHR-ERDA及びHRBS両スペクトルが再生したと考えられる。誘導した元素深さプロフィルは,最先端分子動力学シミュレーションと一致し,この方法が実現可能性があることを示す。表面での[C₂C₁Im]の優先配向に関する議論について,この新しい複合分析によって結論が得られた;すなわち,[C₂C₁Im]カチオンの最上分子層で真空方向に向いたエチル鎖が優先的に配向すると考えられる。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *イオン液体 ,  *深さプロフィル ,  Rutherford後方散乱 ,  *Rutherford散乱分光法 ,  計算機シミュレーション ,  *放射線吸収・散乱分析 ,  *表面構造 ,  優先配向 ,  分子動力学シミュレーション ,  *ERD分析 ,  計算機利用 ,  利用 ,  *構造
準シソーラス用語： *弾性反跳粒子検出法

著者キーワード (5件)： Surface structure ,  ionic liquid ,  hydrogen ,  ERDA ,  RBS

分類 (2件)： 融解塩  (CB05050R) ,  有機化合物の放射化学的分析  (CC06034V)

物質索引 (3件)： 1-メチル-3-エチル-1H-イミダゾール-3-イウム・ビス(トリフルオロメチルスルホニル)アミンアニオン ,  1-メチル-3-ヘキシル-1H-イミダゾール-3-イウム・ビス(トリフルオロメチルスルホニル)アミンアニオン ,  1-メチル-3-デシル-1H-イミダゾール-3-イウム・ビス(トリフルオロメチルスルホニル)アミンアニオン

引用文献 (31件)：

• 1. T. Janssens and W. Vandervorst, in Proceedings of SIMS XII, ed. A. Benninghoven, P. Bertrand, H. N. Migeon, and H. W. Werner, 1998, Elsevier, Amsterdam.
• 2. T. H. Buyuklimanli, C. W. Magee, J. W. Marino, and S. R. Walther, J. Vac. Sci. Technol., B, 2006, 24, 408.
• 3. M. Wilde and K. Fukutani, Surf. Sci. Rep., 2014, 69, 196.
• 4. W. M. Arnold Bik and F. H. P. M. Habraken, Rep. Prog. Phys., 1993, 56, 859.
• 5. K. Kimura, K. Nakajima, S. Yamanaka, M. Hasegawa, and H. Okushi, Appl. Phys. Lett., 2001, 78, 1679.

タイトルに関連する用語 (4件)： 高分解能 ,  イオン液体 ,  組成 ,  深さプロファイリング