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J-GLOBAL ID：201602288948093186   整理番号：16A0635960

二重供給電圧を用いた低消費電力でのNBTI回路の信頼性のための方法論【Powered by NICT】

A methodology for NBTI circuit reliability at reduced power consumption using dual supply voltage

著者 (3件)： Forero Freddy (Dept. of Electronic Engineering, National Institute for Astrophysics, Optics and Electronics - INAOE, Mexico) ,  Gomez Andres (Dept. of Electronic Engineering, National Institute for Astrophysics, Optics and Electronics - INAOE, Mexico) ,  Champac Victor (Dept. of Electronic Engineering, National Institute for Astrophysics, Optics and Electronics - INAOE, Mexico)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： LATS  ページ： 81-86  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： は集積回路の電力消費を低減するための新しい方法論の大きな関心が寄せられている。消費電力は,デバイスが経験する運転温度を上げることができる。,負バイアス温度不安定性(NBTI)のような温度依存機構による影響を受けている回路の信頼性。本論文では,電力消費を低減するために必要とする応用のためのNBTIによる遅延劣化を緩和するための二重供給電圧技術を基にした方法を提案した。提案した方法では,低電圧電源が高い(公称)電圧供給よりわずかに低かった。電圧レベル変換器を必要としない。ゲート計量は回路電力消費と遅延劣化に及ぼすゲートの供給電圧を下げることの利点を推定するために提案される。結果は,NBTI誘起遅延劣化と電力消費は,いくつかの小さな遅延ペナルティで還元されることを示した。これは低電力消費と高い信頼性をもつ回路をもたらした。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 集積回路 ,  *信頼性 ,  温度依存性 ,  *電圧 ,  電力消費 ,  *消費電力 ,  ペナルティ
準シソーラス用語： 電圧印加 ,  電源 ,  低電圧 ,  運転温度 ,  *回路信頼性 ,  *NBTI ,  *低電力化 ,  *供給電圧 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 移動通信  (ND08030H) ,  信号理論  (ND02020G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 供給電圧 ,  低消費電力 ,  NBTI ,  回路の信頼性 ,  方法論