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J-GLOBAL ID：201602290882605039   整理番号：16A0600216

非-c-軸EpitaxialBi_2Sr_2CaCu_2O_8+δThin膜のX線回折によるキャラクタリゼーション【Powered by NICT】

Characterization by X-Ray Diffraction of Non- <tex-math notation=”LaTeX”>$c$</tex-math></inline-formula>-Axis Epitaxial <tex-math notation=”LaTeX”>$¥text{Bi}_{2}¥text{Sr}_{2}¥text{CaCu}_{2}¥text{O}_{8+¥delta}$</tex-math></inline-formula> Thin Films

著者 (6件)： Endo K. (Kanazawa Inst. of Technol., Hakusan, Japan) ,  Arisawa S. (Nat. Inst. for Mater. Sci., Tsukuba, Japan) ,  Kaneko T. (Kanazawa Inst. of Technol., Hakusan, Japan) ,  Tsuyumoto I. (Kanazawa Inst. of Technol., Hakusan, Japan) ,  Tateno Y. (Kanazawa Inst. of Technol., Hakusan, Japan) ,  Badica P. (Nat. Inst. of Mater. Phys., Magurele, Romania)
資料名： IEEE Transactions on Applied Superconductivity  (IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻： 26  号： 3  ページ： ROMBUNNO.7500104.1-4  発行年： 2016年 
JST資料番号： W0177A  ISSN： 1051-8223  CODEN： ITASE9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 非c-軸(117)配向をもつBi_2Sr_2CaCu_2O_8(Bi 2212)の薄膜を(110)LaAlO_3単結晶基板上にMOCVDにより成長させた。XRDθ 2θ走査から,膜が,(119)および(011)Bi-2212不純物粒を含んでいることを示した。を提案しXRDφψ走査によりC軸膜の特性を報告する。このアプローチにより,(117)Bi-2212結晶粒の仮定した理論的膜-基板関係を実験的に実証した。結果もスパンrooflike(117)Bi-2212結晶粒中の双晶を確認した。不純物(119)と(011)Bi-2212結晶粒も膜-基板関係とA FM像によればrooflikeと面内整列は膜は,面内エピタキシャル考慮できるようにした。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： MOCVD ,  スパン ,  *エピタクシー ,  走査 ,  *薄膜 ,  双晶 ,  *X線回折 ,  不純物 ,  *表記法 ,  アラインメント ,  単結晶 ,  結晶粒

著者キーワード (4件)： (117)Bi2Sr2CaCu2O8 ,  MOCVD ,  薄膜 ,  XRD/ドルvarphi-/psiドルスキャン

分類 (2件)： 酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I) ,  Josephson接合・素子  (BM04043E)

タイトルに関連する用語 (2件)： X線回折 ,  キャラクタリゼーション