特許
J-GLOBAL ID:201603000242772882

3次元計測装置と3次元計測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 塩入 明 ,  塩入 みか
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-521235
特許番号:特許第6016912号
出願日: 2013年05月22日
請求項(抜粋):
【請求項1】 計測対象の物体に格子をシフト自在に投影するプロジェクタと、計測対象の物体を撮影するカメラと、格子の位置をシフトさせた複数の画像から格子に対する計測対象の物体の位相を求めて、計測対象の物体の3次元形状へ変換するコンピュータ、とを備えている3次元計測装置において、 カメラから相対的に近い位置と相対的に遠い位置とに、前記プロジェクタが2台設けられ、 前記コンピュータは、 カメラから近い位置のプロジェクタから投影した際の画像から、計測対象の物体の表面の粗な位相を求めると共に、カメラから遠い位置のプロジェクタから投影した際の画像から、計測対象の物体の表面の精密な位相を求める位相解析部と、 前記精密な位相を、前記粗な位相により、カメラからの視線方向に沿っての、計測対象の物体の表面の位置を一意に定める位相へ変換する位相接続部、とを備えていることを特徴とする3次元計測装置。
IPC (1件):
G01B 11/25 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01B 11/25 H
引用特許:
出願人引用 (2件)

前のページに戻る