特許
J-GLOBAL ID：201003052511937210
3次元形状測定装置および測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人高橋・林アンドパートナーズ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-120663
公開番号（公開出願番号）：特開2010-276607
出願日： 2010年05月26日
公開日（公表日）： 2010年12月09日
要約：
【課題】3次元形状測定装置および測定方法を提供すること。【解決手段】3次元形状測定装置は、光源および格子素子を含み、前記格子素子をn回移送させて移送ごとに測定対象物に格子パターン照明を投影するm個の投影部と、前記測定対象物で反射される格子パターン画像を撮影する結像部と、前記m個の投影部のうち、いずれか一つの投影部を用いて前記格子パターン画像を撮影する間に、少なくとも一つの他の投影部の格子素子が移送されるように制御する制御部と、を含む。これにより、3次元形状の測定時間を短縮させることができる。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
光源および格子素子を含み、前記格子素子をn回移送させて移送ごとに測定対象物に格子パターン照明を投影するm個の投影部と、
前記測定対象物で反射される格子パターン画像を撮影する結像部と、
前記m個の投影部のうち、いずれか一つの投影部を用いて前記格子パターン画像を撮影する間に、少なくとも一つの他の投影部の格子素子が移送されるように制御する制御部と、を含むことを特徴とする3次元形状測定装置(ここで、nおよびmは2以上の自然数である。)。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B11/24 K
, G01B11/00 H
2F065AA53
, 2F065BB13
, 2F065BB27
, 2F065CC01
, 2F065DD06
, 2F065FF01
, 2F065FF04
, 2F065GG07
, 2F065HH13
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ19
, 2F065JJ26
, 2F065QQ31
, 2F065QQ38
審査官引用 (7件)
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3次元形状測定装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2003-101168
出願人：オリンパス株式会社
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撮影制御方法および装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2002-083181
出願人：ミノルタ株式会社
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3次元形状計測装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平10-014622
出願人：松下電工株式会社
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