特許
J-GLOBAL ID：201603001400152397
解析装置、解析方法、及び、プログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
上野 剛史
, 太佐 種一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-107771
公開番号（公開出願番号）：特開2014-229051
特許番号：特許第5984142号
出願日： 2013年05月22日
公開日（公表日）： 2014年12月08日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 対象物の変形を解析する解析装置であって、
前記対象物に含まれる複数点の時系列に沿った座標データを取得する取得部と、
前記時系列上の各時刻における複数点の前記座標データから、当該時刻における、前記対象物の回転、伸縮、及び形状の変化のうちの少なくとも1つを含む前記対象物の変形のそれぞれについて前記対象物の変形した量を表す変形特徴量を算出する算出部と、
前記変形特徴量の時系列データを、前記対象物の変形状態を特定するためのデータとして、前記対象物に対応付けて記憶する記憶部と、
を備える解析装置。
IPC (2件)：
G06F 17/50 ( 200 6.01)
, G06F 19/00 ( 201 1.01)
G06F 17/50 612 A
, G06F 17/50 680 Z
, G06F 19/00 110
