特許
J-GLOBAL ID：201603003052901510

平判紙の積層状態不良検知方法および平判紙積層状態不良検知装置

発明者：
池田 孝之

池田 孝之 について

, 
長谷川 純也

長谷川 純也 について

, 
稲川 利郎

稲川 利郎 について


出願人/特許権者：
JFEプラントエンジ株式会社

JFEプラントエンジ株式会社 について

, 
王子ホールディングス株式会社

王子ホールディングス株式会社 について


代理人 (11件)： 森 哲也 ,  鈴木 壯兵衞 ,  田中 秀▲てつ▼ ,  廣瀬 一 ,  宮坂 徹 ,  小西 恵 ,  森 哲也 ,  小西 恵 ,  田中 秀▲てつ▼ ,  廣瀬 一 ,  宮坂 徹
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-179695
公開番号（公開出願番号）：特開2014-038013
特許番号：特許第5996965号
出願日： 2012年08月14日
公開日（公表日）： 2014年02月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 一定寸法に裁断された平判紙を積層してなる積層物に平判紙の積層状態の不良があるか否かを検知する方法であって、 前記積層物の側面に対して下向きに傾斜した角度で積層物の周囲に配置されたレーザ照射装置から前記積層物の各側面にレーザ光を前記積層物の高さ方向に沿って線状に照射すると共に、前記積層物の各側面を前記積層物の側面に対して下向きに傾斜した角度で積層物の周囲に配置された撮像装置により撮像し、前記撮像装置から出力された画像信号を処理して前記レーザ光の照射軌跡を表わす二値化画像を作成し、前記レーザ光の照射軌跡が前記積層物の高さ方向に連続する照射軌跡であるか否かを判定することによって、前記平判紙の積層状態の不良を検知することを特徴とする平判紙の積層状態不良検知方法。
IPC (2件)：
G01B 11/25 ( 200 6.01) ,  G01N 21/88 ( 200 6.01)
FI (2件)：
G01B 11/25 H ,  G01N 21/88 Z
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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