特許
J-GLOBAL ID：201603006647139263

異常検知方法およびその装置

発明者：
渋谷 久恵

渋谷 久恵 について


出願人/特許権者：
株式会社日立パワーソリューションズ

株式会社日立パワーソリューションズ について


代理人 (1件)： 青稜特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-080134
公開番号（公開出願番号）：特開2016-200949
出願日： 2015年04月09日
公開日（公表日）： 2016年12月01日
要約：
【課題】 感度を阻害するセンサを簡便な方法で除外する。【解決手段】 異常検知装置は、センサ信号を入力し、除外するセンサ信号の指定に応じて、指定されたセンサ信号を除くセンサ信号から所定時間毎に特徴ベクトルを抽出し、指定された学習期間の特徴ベクトルを学習データとして所定時間毎の異常測度を算出し、学習期間の異常測度に基づいてしきい値を算出し、異常測度としきい値との比較結果に基づいて、所定時間毎のセンサ信号が異常か正常かを判定し、除外するセンサ信号は、(1)学習期間の異常測度を算出する過程で、所定時間毎に算出される残差、(2)指定された評価期間のセンサ信号の二次元の分布密度に基づいて算出される評価値、および(3)センサ毎に算出される、センサ信号が正常分布から離れているか否かを表す指標である孤立度のいずれか一つに基づいて指定される。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
設備に装着されたセンサから出力される複数の時系列のセンサ信号を用いた異常検知装置における異常検知方法であって、前記異常検知装置は、 前記センサ信号を入力し、 除外するセンサ信号の指定に応じて、前記指定されたセンサ信号を除く前記センサ信号から所定時間毎に特徴ベクトルを抽出し、 指定された学習期間の前記特徴ベクトルを学習データとして前記所定時間毎の異常測度を算出し、 前記学習期間の前記異常測度に基づいてしきい値を算出し、 前記異常測度と前記しきい値との比較結果に基づいて、前記所定時間毎の前記センサ信号が異常か正常かを判定し、 前記除外するセンサ信号は、(1)前記学習期間の前記異常測度を算出する過程で、前記所定時間毎に算出される残差、(2)指定された評価期間の前記センサ信号の二次元の分布密度に基づいて算出される評価値、および(3)前記センサ毎に算出される、前記センサ信号が正常分布から離れているか否かを表す指標である孤立度のいずれか一つに基づいて指定されることを特徴とする異常検知方法。
IPC (1件)：
G05B 23/02
FI (1件)：
G05B23/02 302R
Fターム (21件)：
3C223AA02 ,  3C223AA03 ,  3C223AA04 ,  3C223AA11 ,  3C223AA15 ,  3C223AA18 ,  3C223AA21 ,  3C223BA01 ,  3C223CC01 ,  3C223DD01 ,  3C223EB01 ,  3C223EB02 ,  3C223FF04 ,  3C223FF13 ,  3C223FF26 ,  3C223FF35 ,  3C223GG01 ,  3C223HH03 ,  3C223HH04 ,  3C223HH08 ,  3C223HH15
引用特許：
審査官引用 (4件)
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