特許
J-GLOBAL ID：201603007792684888
情報処理装置の試験方法および情報処理装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
机 昌彦
, 下坂 直樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-130303
公開番号（公開出願番号）：特開2016-009376
出願日： 2014年06月25日
公開日（公表日）： 2016年01月18日
要約：
【課題】 ランダム試験プログラムによる情報処理装置の電力測定効率を向上させる。【解決手段】 試験命令群を情報処理装置に実行させて情報処理装置を試験する方法において、試験命令群を作成して情報処理装置に実行させるステップと、試験命令群を作成して実行させるプログラムを第1の記憶手段に記憶するステップと、情報処理装置が試験命令群を実行する際の消費電力を測定するステップと、試験命令群と消費電力の測定結果とを関連付けて第2の記憶手段に記憶するステップとを有する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
試験命令群を情報処理装置に実行させて前記情報処理装置を試験する方法において、
前記試験命令群を作成して前記情報処理装置に実行させるステップと、
前記試験命令群を作成して実行させるプログラムを第1の記憶手段に記憶するステップと、
前記情報処理装置が前記試験命令群を実行する際の消費電力を測定するステップと、
前記試験命令群と前記消費電力の測定結果とを関連付けて第2の記憶手段に記憶するステップと、
を有することを特徴とする情報処理装置の試験方法。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G06F11/22 310W
, G06F11/22 310A
5B048AA01
, 5B048DD01
, 5B048EE05
