特許
J-GLOBAL ID：201603008472075294

レーザ光特性測定方法及び測定装置

発明者：
井上 雅晶

井上 雅晶 について

, 
伊藤 文彦

伊藤 文彦 について


出願人/特許権者：
日本電信電話株式会社

日本電信電話株式会社 について


代理人 (4件)： 蔵田 昌俊 ,  小出 俊實 ,  峰 隆司 ,  野河 信久
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-179595
公開番号（公開出願番号）：特開2014-038004
特許番号：特許第5927079号
出願日： 2012年08月13日
公開日（公表日）： 2014年02月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 遅延時間τの関数である被測定レーザ光のコヒーレンス度γ(τ)を測定するレーザ光コヒーレンス度測定方法であって、 前記被測定レーザ光の周波数を正の掃引率及び負の掃引率で線形に同時に掃引し、 前記周波数掃引されたレーザ光を2系統に分岐し、 分岐された一方のレーザ光を光ファイバに入射して当該光ファイバで生じたレイリー散乱光を取り込み、 前記レイリー散乱光及び前記分岐された他方のレーザ光をそれぞれ2系統に分岐し、 分岐された一方のレイリー散乱光と再分岐された一方のレーザ光を合波して第1の光電流を検出し、 再分岐された他方のレーザ光に位相差π/2を付与し、 前記位相差π/2を付与されたレーザ光と前記分岐された他方のレイリー散乱光を合波して第2の光電流を検出し、 前記第1の光電流の電流値を実部とし前記第2の光電流の電流値を虚部とした複素信号を算出し、 前記複素信号をフーリエ変換してその周波数スペクトルI~'q(τi)を算出し、 同様に、連続して前記第1および第2の光電流を検出するとともにその周波数スペクトルの位相共役I~'*s(τk)を算出し、 測定q回目とs回目の中心周波数の差を[ω-q-ω-s]とするとき、次式 が成り立つことを利用して、 の絶対値の平方根を算出することにより前記コヒーレンス度の絶対値|γ(τ)|を求めることを特徴とするレーザ光特性測定方法。
IPC (1件)：
G01J 9/00 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G01J 9/00
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)
引用文献：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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