特許
J-GLOBAL ID：200903039086344270
光周波数領域反射測定方法および装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 小出 俊實
, 蔵田 昌俊
, 石川 義雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-286567
公開番号（公開出願番号）：特開2009-115509
出願日： 2007年11月02日
公開日（公表日）： 2009年05月28日
要約：
【課題】 測定される任意の位置からの反射光強度を調節することができ、強反射点近傍においても高分解能な測定を行えるようにする。【解決手段】コヒーレント光源11から出力されるコヒーレント光の変調側波帯周波数をDSB-SC変調器12を用いて掃引し、かつ信号光中の参照光の光路中の少なくとも一方に遅延時間を付加し(17,18)、その遅延時間を調節することで測定される強反射点の反射光強度を減衰させて、位相雑音レベルを低下させ、この状態で再度測定を実施する(20,21)。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
コヒーレント光に光変調を施して変調側波帯を発生させ、この変調側波帯を時間に対して線形に周波数掃引した伝送光を2分岐して一方を参照光、他方を信号光とし、前記信号光を被測定物に入射し、当該被測定物内の任意の位置で反射または後方散乱された信号光と前記参照光を合波させて干渉ビート信号を生じさせ、これを受光して周波数解析することで、前記被測定物内の任意の位置における反射率、損失の少なくともいずれかを測定する光周波数領域測定方法において、
前記光変調として両側波帯変調を施し、前記信号光及び参照光の少なくともいずれか一方の光路中で遅延時間を調節することを特徴とする光周波数領域反射測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
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