特許
J-GLOBAL ID：201603008712002931
分光測定装置及び分光測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
長谷川 芳樹
, 黒木 義樹
, 石田 悟
, 荒井 寿王
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-019406
公開番号（公開出願番号）：特開2014-149266
特許番号：特許第5944843号
出願日： 2013年02月04日
公開日（公表日）： 2014年08月21日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 測定対象となる試料に励起光を照射し、被測定光を検出する分光測定装置であって、
前記励起光を発生させる光源と、
前記励起光が入射される入射開口部と、被測定光を出射する出射開口部とを有する積分器と、
前記積分器内に配置され、前記試料を収容する収容部と、
前記試料に前記励起光を入射させる入射光学系と、
前記出射開口部から出射された被測定光を検出する光検出器と、
前記光検出器で検出された検出値に基づき前記試料の光吸収率を算出する解析手段と、を備え、
前記試料への入射位置における前記励起光の照射面積は、前記試料の被照射面積よりも大きくされ、
前記解析手段は、算出される前記光吸収率に対して、前記励起光の前記照射面積及び前記試料の前記被照射面積に関する面積比補正を行うことを特徴とする分光測定装置。
IPC (2件)：
G01J 3/443 ( 200 6.01)
, G01N 21/64 ( 200 6.01)
G01J 3/443
, G01N 21/64 Z
