特許
J-GLOBAL ID：201603008929290943
磁気デバイス測定装置及び磁気デバイス測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
林 實
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-115195
公開番号（公開出願番号）：特開2013-242937
特許番号：特許第5933152号
出願日： 2012年05月21日
公開日（公表日）： 2013年12月05日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 磁気デバイスに磁界を印加するための電磁石と、前記磁気デバイスの特性変化を測定するための特性測定装置と、一定周期のサンプリングクロック信号を発生するD/Aサンプリングクロック発生器と、前記D/Aサンプリングクロック発生器が発生したサンプリングクロック信号を入力とし、前記サンプリングクロック信号をアナログ信号にD/A変換した制御電圧Vを出力する第1のD/Aコンバータと、前記第1のD/Aコンバータから出力された制御電圧Vによって前記電磁石を駆動する正弦波のコイル電流を発生するコイル電源と、前記D/Aサンプリングクロック発生器が発生したサンプリングクロック信号を入力とし、前記サンプリングクロック信号をアナログ信号にD/A変換して前記特性測定装置の測定タイミングクロックとして出力する第2のD/Aコンバータとを備えた磁気デバイス測定装置であって、前記第2のD/Aコンバータが、前記電磁石の等磁界変化量が同一になるタイミングの測定タイミングクロックを発生するように構成されていることを特徴とする磁気デバイス測定装置。
IPC (4件)：
G11B 5/455 ( 200 6.01)
, G01R 33/09 ( 200 6.01)
, G11B 5/39 ( 200 6.01)
, G11B 5/00 ( 200 6.01)
G11B 5/455 C
, G01R 33/06 R
, G11B 5/39
, G11B 5/00 D
