特許
J-GLOBAL ID：201003039514149917

磁気特性検査装置及びそれを用いた検査方法

発明者：
▲高▼橋 昌義

▲高▼橋 昌義 について

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幕内 雅巳

幕内 雅巳 について

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折橋 律郎

折橋 律郎 について

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本間 真司

本間 真司 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (1件)： ポレール特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-157447
公開番号（公開出願番号）：特開2010-267374
出願日： 2010年07月12日
公開日（公表日）： 2010年11月25日
要約：
【課題】従来の磁気ディスクまたは磁気ヘッド検査装置は、磁気ディスクまたは磁気ヘッドを検査するための書込みおよび測定リソースを各ヘッドで占有する構成であり、磁気ヘッドや磁気ディスクの同時測定数を増やした場合に同磁気ヘッドの数だけ書込み/測定リソースを増やす必要があるため、装置の小形・低コスト化は困難である。【解決手段】複数ディスク回転部または複数磁気ヘッドを持つ磁気ヘッドまたは磁気特性検査装置において、書込み信号発生部の出力信号を各磁気ヘッドに切替または分配する手段と、各磁気ヘッドから読出した信号を各測定リソースに切替または分配して出力する手段と、各測定リソースがどのディスク回転部に同期した測定をするかを切替える手段を具えることにより、複数のディスク回転部間または複数のヘッド間で書込み信号発生部および測定リソースを共有する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
磁気ディスクを各々回転動作させるための2つのディスク回転部と、 前記2つのディスク回転部により各々保持される各磁気ディスク上に、該各磁気ディスクの半径方向に離間して配置される2個の磁気ヘッドと、 前記2つのディスク回転部の各々に対応し、前記各磁気ディスク上の前記2個の磁気ヘッドのそれぞれに検査用のライト信号を同時に与える2つのライト信号生成部と、 前記各磁気ヘッドから読出した信号の波形特性を各々検査する複数の測定部と、 前記ライト信号生成部および前記測定部の切替または分配を制御する切替/分配制御機能と、 前記各測定部が前記2つのディスク回転部のどのディスク回転部に同期して動作するかを選択するディスク回転部選択機能とを備え、 前記各ライト信号生成部は、前記半径方向内外の2個の磁気ヘッドが同じ記録密度になるように、2つの独立した周波数の前記ライト信号を生成する機能を有し、 前記ディスク回転部選択機能は、前記複数の測定部が前記2つのディスク回転部のいずれに同期したタイミング信号を選択するかを決定する切替えスイッチを備えており、 前記複数の測定部を共用して、前記各磁気ヘッドに関する検査を前記ディスク回転部ごとに異なるタイミングで行い、前記ディスク回転部ごとに異なるタイミングでヘッド交換を行うと共に、前記各ディスク回転部の2つの前記磁気ヘッドに関する検査を、ほぼ同じタイミングで行い、ほぼ同じタイミングで該磁気ヘッドの交換を行う、ことを特徴とする磁気特性検査装置。
IPC (2件)：
G11B 5/455 ,  G11B 5/00
FI (2件)：
G11B5/455 D ,  G11B5/00 D
Fターム (3件)：
5D091AA10 ,  5D091BB06 ,  5D091FF04
引用特許：
審査官引用 (8件)
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