特許
J-GLOBAL ID：201603009283006679
フィルム試料固定装置、それを有するX線分析装置及び方法並びにそれを用いたフィルム製造装置及び方法とその方法により製造されたフィルム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (2件)：
伴 俊光
, 細田 浩一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-058179
公開番号（公開出願番号）：特開2016-183965
出願日： 2016年03月23日
公開日（公表日）： 2016年10月20日
要約：
【課題】分析する対象物がフィルムやその上に設けられた有機物などの比較的柔らかい材質であっても、簡便に高精度かつ優れた繰り返し再現性を実現可能であり、さらに、フィルムの反り、うねり、シワ等を最小限に抑え、高精度に分析可能なフィルム試料固定装置と、それを有するX線分析装置及び方法、それを用いたフィルム製造装置及び方法とその方法により製造されたフィルムを提供する。【解決手段】フィルム試料を帯電させる帯電機構と、帯電されたフィルム試料を保持する試料台とを有することを特徴とするフィルム試料固定装置、それを有するX線分析装置及び方法並びにそれを用いたフィルム製造装置及び方法とその方法により製造されたフィルム。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
フィルム試料を帯電させる帯電機構と、帯電されたフィルム試料を保持する試料台とを有することを特徴とするフィルム試料固定装置。
IPC (4件)：
G01N 23/20
, G01N 23/203
, G01N 23/201
, G01N 23/207
G01N23/20 320
, G01N23/203
, G01N23/201
, G01N23/207
2G001AA01
, 2G001BA14
, 2G001BA15
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001LA05
, 2G001MA05
, 2G001NA17
, 2G001QA03
