特許
J-GLOBAL ID:201603009638144830

加熱試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人綿貫国際特許・商標事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-041980
公開番号(公開出願番号):特開2016-183959
出願日: 2016年03月04日
公開日(公表日): 2016年10月20日
要約:
【課題】高性能の加熱試験装置を提供する。【解決手段】加熱試験装置は、高温側プレート(14)と筐体(12)との間にスペース(S)を設けて、高温側プレート(14)のクランプ面(14a)とは反対側の裏面(14b)から高温側プレート(14)を支持するスペーサ(18)と、高温側プレート(14)をスペーサ(18)に固定させるようスペーサ(18)とネジ止めされる留め具(24)とを備えている。高温側プレート(14)は、クランプ面(14a)および裏面(14b)に通じる貫通孔(14c)を有し、貫通孔(14c)に挿入される留め具(24)によってスペーサ(18)に固定されている。【選択図】図4
請求項(抜粋):
筐体と、 前記筐体内に設けられ、ワークをクランプするクランプ面を有する高温側プレートおよび低温側プレートと、 前記高温側プレートと前記筐体との間にスペースを設けて、前記高温側プレートのクランプ面とは反対側の裏面から前記高温側プレートを支持するスペーサと、 前記スペーサとネジ止めされる留め具と、 を備え、 前記高温側プレートは、前記高温側プレートのクランプ面および前記高温側プレートの裏面に通じる貫通孔を有し、前記貫通孔に挿入される前記留め具によって前記スペーサに固定されていることを特徴とする加熱試験装置。
IPC (1件):
G01N 3/60
FI (1件):
G01N3/60 A
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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