特許
J-GLOBAL ID:201603010158041843
画像処理装置、撮像装置、および画像処理プログラム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
古谷 史旺
, 森 俊秀
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-179352
公開番号(公開出願番号):特開2014-039100
特許番号:特許第6011146号
出願日: 2012年08月13日
公開日(公表日): 2014年02月27日
請求項(抜粋):
【請求項1】 処理対象の画像データを取得する取得部と、
前記画像データにより示される画像の特徴量を算出し、前記特徴量に基づいて定まる被写体領域を検出する領域検出部と、
前記画像における影の影響を示す評価値を算出する評価値算出部と、
前記評価値算出部により算出した前記評価値に基づいて、前記領域検出部による前記被写体領域の検出方法を決定する制御部と、
を備え、
前記領域検出部は、前記特徴量として、少なくとも輝度に関する特徴量を算出するとともに、前記輝度に関する特徴量に基づいて、少なくとも低輝度領域に基づく被写体領域を検出し、
前記制御部は、前記評価値と所定の閾値とを比較することにより、前記影の影響が大きいか否かを判定し、前記影の影響が大きい場合には、前記低輝度領域に基づく被写体領域の検出方法を変更する画像処理装置。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許:
出願人引用 (4件)
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画像センサ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-377349
出願人:セコム株式会社
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画像処理方法および画像処理装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-285320
出願人:川崎重工業株式会社
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特開平4-010079
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画像監視装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-152399
出願人:セコム株式会社, 株式会社日立製作所
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審査官引用 (4件)
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画像センサ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-377349
出願人:セコム株式会社
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画像処理方法および画像処理装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-285320
出願人:川崎重工業株式会社
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特開平4-010079
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画像監視装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-152399
出願人:セコム株式会社, 株式会社日立製作所
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