特許
J-GLOBAL ID：201603010820532364
X線検査装置、X線検査方法およびX線検査プログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
Knowledge Partners 特許業務法人
, 岩上 渉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-171677
公開番号（公開出願番号）：特開2016-045164
出願日： 2014年08月26日
公開日（公表日）： 2016年04月04日
要約：
【課題】スルーホールがメッキによって充填されることで形成された充填形成部内のボイドの有無を判定する技術の提供。【解決手段】スルーホールがメッキによって充填されることで形成された充填形成部にX線を照射して異なる方向から撮影した複数のX線画像を取得するX線画像取得手段と、前記複数のX線画像に基づいて再構成演算を実行する再構成演算手段と、当該再構成演算によって得られた再構成情報から前記スルーホールがメッキによって充填されることで形成された前記充填形成部内のボイドに特有の特徴量を抽出し、当該特徴量に基づいて前記充填形成部内のボイドの有無を判定する判定手段と、を備えるX線検査装置を構成する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
スルーホールがメッキによって充填されることで形成された充填形成部にX線を照射して異なる方向から撮影した複数のX線画像を取得するX線画像取得手段と、
前記複数のX線画像に基づいて再構成演算を実行する再構成演算手段と、
当該再構成演算によって得られた再構成情報から、前記スルーホールがメッキによって充填されることで形成された前記充填形成部内のボイドに特有の特徴量を抽出し、当該特徴量に基づいて前記充填形成部内のボイドの有無を判定する判定手段と、
を備えるX線検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (7件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001KA04
, 2G001LA11
, 2G001MA05
, 2G001PA12
