特許
J-GLOBAL ID:201603011377078520

光源回路の直流抵抗測定システム、測定装置及び測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 木内 光春
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-266655
公開番号(公開出願番号):特開2014-112498
特許番号:特許第5976514号
出願日: 2012年12月05日
公開日(公表日): 2014年06月19日
請求項(抜粋):
【請求項1】 ループ状に形成されたケーブルに複数の光源が接続された光源回路と、 前記光源回路全体の抵抗を計測する直流抵抗計測器と、 前記光源回路に直流電圧を印加する直流電源と、 接続した前記直流電源と前記光源回路の端子電圧を検出する電圧計測器と、 前記光源回路と前記直流抵抗計測器又は前記光源回路と前記直流電源に接続を切り替える装置切替部と、 前記光源回路の任意の箇所に接続される複数の開閉器と、 前記光源回路の直流抵抗を算出するための直流抵抗算出部と、 を具備し、 前記直流抵抗算出部は、前記直流抵抗計測器から前記光源回路全体の直流抵抗値を得る直流抵抗計測部と、 前記直流電源より前記光源回路に直流電圧が印加された場合に、前記開閉器により接続された前記光源回路の一部分の電圧値を前記電圧計測器から得る電圧計測部と、 前記光源回路全体の直流抵抗値、前記光源回路の一部分の電圧値、及び前記直流電源の電圧値から前記光源回路の直流抵抗を算出する抵抗算出部と、 を備えていることを特徴とする光源回路の直流抵抗測定システム。
IPC (1件):
H05B 37/02 ( 200 6.01)
FI (1件):
H05B 37/02 Z
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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