特許
J-GLOBAL ID：201603011760711058
スキャン内ダイナミックレンジを改善するための可変窓バンドパスフィルタリングを使用する調査スキャンからのイオンの除去
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
山本 秀策
, 森下 夏樹
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-513264
特許番号：特許第5889403号
出願日： 2012年05月30日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 ある質量範囲からイオンをバンドパスフィルタリングするためのシステムであって、
質量分析器を含むタンデム質量分析計であって、前記タンデム質量分析計は、異なる調整パラメータ値を使用して、異なる質量選択窓幅でスキャンを行うことが可能であり、ある質量範囲のフルスキャンを行う、タンデム質量分析計と、
前記タンデム質量分析計と通信するプロセッサと
を備え、前記プロセッサは、
前記タンデム質量分析計から、前記フルスキャンに対するフルスペクトルを受信することと、
前記フルスペクトルの第1の質量選択窓を選択し、第1の組の調整パラメータ値を選択することと、
前記タンデム質量分析計に、前記第1の組の調整パラメータ値を使用して、前記第1の質量選択窓の第1のスキャンを行うように命令することと、
前記タンデム質量分析計から、前記第1のスキャンに対する第1のスペクトルを受信することと、
前記質量範囲の前記第1の質量選択窓に対する前記第1のスペクトルからの値を追加することによって前記質量範囲に対するバンドパスフィルタリングされたスペクトルを生成することと
を行う、システム。
IPC (2件)：
H01J 49/42 ( 200 6.01)
, G01N 27/62 ( 200 6.01)
H01J 49/42
, G01N 27/62 E
