特許
J-GLOBAL ID:201603014000321810

高分子材料のエネルギーロス及び耐摩耗性能を評価する方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人 安富国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-264607
公開番号(公開出願番号):特開2016-125844
出願日: 2014年12月26日
公開日(公表日): 2016年07月11日
要約:
【課題】測定精度に優れ、かつ各試料の性能差も充分に評価可能な高分子材料のエネルギーロスを評価する方法、及び、測定精度に優れ、かつ各試料の性能差も充分に評価可能な高分子材料の耐摩耗性能を評価する方法を提供する。【解決手段】X線又は中性子線を高分子材料に照射し、X線散乱測定又は中性子散乱測定を実施することにより、高分子材料のエネルギーロス、及び耐摩耗性能を評価する方法に関する。【選択図】なし
請求項(抜粋):
X線又は中性子線を高分子材料に照射し、X線散乱測定又は中性子散乱測定を実施することにより、高分子材料のエネルギーロスを評価する方法であって、 下記(式1)で表されるqの領域において、X線散乱測定又は中性子散乱測定により得られた散乱強度曲線I(q)に対し、下記(式1-2)〜(式1-7)でカーブフィッティングして得られる1nm〜100nmの相関長ξの標準偏差σaを用いた高分子材料のエネルギーロスを評価する方法。
IPC (5件):
G01N 23/201 ,  G01N 23/202 ,  G01M 17/02 ,  G01N 33/44 ,  B60C 19/00
FI (5件):
G01N23/201 ,  G01N23/202 ,  G01M17/02 B ,  G01N33/44 ,  B60C19/00 H
Fターム (10件):
2G001AA01 ,  2G001AA04 ,  2G001BA14 ,  2G001CA01 ,  2G001CA04 ,  2G001DA08 ,  2G001DA09 ,  2G001FA18 ,  2G001HA07 ,  2G001LA05
引用特許:
審査官引用 (2件)

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